ГОСТ Р 56980-2016
Примечание — В международной практике также приняты следующие обозначения указанных типов
соединений: последовательное соединение — тип S; последовательно-параллельное соединение — тип SP; по-
следовательно-параллельно-последовательное соединение — тип SPS.
В общем случае трех вариантов испытаний для указанных типов соединений достаточно для того,
чтобы провести испытания на стойкость к местному перегреву практически всех вариантов фотоэлек
трических модулей из кристаллического кремния. Другие типы соединений могут быть сведены к одно му
из указанных трех типов.
10.9.4 Оборудование для проведения испытаний
Для проведения испытаний требуется следующее оборудование:
a) источник освещения: естественное солнечное освещение или имитатор солнечного излучения
непрерывного действия, обеспечивающий два режима освещения — энергетическая освещенность не
менее 700 Вт/м2, неоднородность распределения энергетической освещенности в плоскости измере
ния не более ± 2 %. отклонение энергетической освещенности от выбранного значения в пределах ± 5 % и
энергетическая освещенность 1000 Вт/м2 ± 10 %; или два имитатора солнечного излучения непрерыв
ного действия, обеспечивающие каждый из указанных режимов в отдельности;
b
)эталонный фотоэлектрический прибор, отвечающий требованиям ГОСТР МЭК60904-2. или пи
ранометр. При проведении испытаний с использованием имитатора солнечного излучения эталонный
прибор должен быть эталонным модулем того же размера и выполненным по той же технологии, что и
испытуемый образец (для обеспечения соответствия характеристик эталонного прибора характери
стикам испытуемых образцов в требуемых диапазонах энергетической освещенности, спектрального
распределения и температур);
c) двухосевая система слежения, обеспечивающая слежение за Солнцем таким образом, чтобы
поступающее излучение было перпендикулярно рабочим поверхностям образца и эталонного прибора в
пределах угла падения ± 5°;
d) прибор для проверки компланарности рабочих поверхностей эталонного прибора и испытуемо
го образца в пределах угла ± 2";
e) средства измерения температуры испытуемого образца и эталонного прибора с точностью ± 1 °С
и воспроизводимостью ± 0.5 °С;
0 инфракрасная камера (ИК-камера) или иные подходящие средства измерения температуры
фотоэлектрических элементов:
д) средства измерения температуры испытуемого образца с точностью ± 1 °С и повторяемостью
± 0.5 СС;
h) средства для измерения ВАХ испытуемого образца;
i) набор полупрозрачных покрытий для испытуемого элемента с шагом затенения 5 %.
10.9.5 Проведение испытаний
Последовательное соединение фотоэлектрических элементов
1) Устанавливают испытуемый образец и эталонный прибор на двухосевом следящем устройстве
как можно ближе друг к другу таким образом, чтобы рабочие поверхности эталонного прибора и ис
пытуемого образца были компланарны и перпендикулярны прямым солнечным лучам в пределах угла
падения ± 5е.
Или настраивают имитатор солнечного излучения (см. ГОСТ Р МЭК 60904-1) и устанавливают ис
пытуемый образец в плоскости измерения имитатора.
2) Устанавливают все средства защиты испытуемого образца от местного перегрева, рекомендо
ванные изготовителем.
3) Устанавливают и подключают необходимое измерительное оборудование.
4) Измеряют ВАХ испытуемого образца при энергетической освещенности не менее 700 Вт/м2 с
отклонением энергетической освещенности от выбранного значения не более ± 5 %. Неоднородность
распределения энергетической освещенности в плоскости измерения должна составлять не более ± 2 %.
5) Определяют ток испытуемого образца в точке максимальной мощности /тах.
6) Устанавливают перемычку между выводами испытуемого образца.
7) При освещении испытуемого образца с той же интенсивностью, что и на этапе 3). выбирают в
испытуемом образце фотоэлектрический элемент, наиболее критичный с точки зрения перегрева, од
ним из способов:
- с помощью ИК-камеры или иных подходящих средств измерения температуры определяют наи
более горячий фотоэлектрический элемент;
25