ГОСТ Р 56980-2016
- снижение максимальной выходной мощности не превышает 5 % от значения, измеренного до
проведения испытания,
- сопротивление изоляции отвечает требованиям 10.3.
Все результаты испытаний должны быть зафиксированы, и в протокол испытаний должны быть
включены описания, фотографии (рисунки) всех повреждений и видимых дефектов после каждого удара.
10.18 Испытания шунтирующих/блокирующих диодов на термостойкость
10.18.1 Цель
Проверка теплового расчета фотоэлектрического модуля и надежности шунтирующего(их)/
блокирующего(их) диода(ов) при высокой температуре, возникающей в процессе выполнения шунтиру-
ющим/блокирующим диодом защитных функций.
10.18.2 Образец для проведения испытаний
Если шунтирующий(е)/блокирующий(е) диод(ы) в испытуемом образце иедоступен(ы), для ис
пытаний может быть необходимо изготовление специального замещающего образца. Данный об
разец должен быть изготовлен таким образом, чтобы обеспечить те же температурные условия при
испытаниях, что и в обычном испытуемом образце, и необязательно должен быть рабочим моду
лем. Он должен обеспечивать возможность измерять во время испытаний температуру той части
шунтирующих/блокирующих диодов, тепловое сопротивление между которой и переходом диода
указано изготовителем в сопроводительной документации или может быть найдено по типу диода
(как правило, это корпус диода и тепловое сопротивление переход-корпус). Также замещающий об
разец должен обеспечивать возможность устанавливать перемычки или переключатели, если они
требуются.
Если измерение температуры шунтирующего/блокирующего диода будет проводиться с помощью
датчика температуры, провода датчика температуры должны иметь малую теплоемкость и быть под
ключены таким образом, чтобы как можно меньше влиять на диод и его тепловое окружение. Датчик
температуры может быть установлен на соответствующей части шунтирующего/блокирующего диода
при изготовлении замещающего образца.
Данный замещающий образец должен использоваться только для испытаний шунтирующих/бло
кирующих диодов на термостойкость и не должен принимать участие во всех остальных испытаниях.
10.18.3 Испытательное оборудование
Для проведения испытаний требуется следующее оборудование:
a) источник постоянного тока, обеспечивающий ток, не менее чем в 1,25 раза превышающий ток
короткого замыкания данного испытуемого образца при СУИ;
b
) средства измерения и регистрации тока, протекающего через испытуемый образец с погреш
ностью не более ± 0.5;
c) средства нагрева испытуемого образца до температуры (75 ± 5) °С;
d) средства измерения и регистрации температуры испытуемого образца с точностью ± 1 °С;
e) средства измерения и регистрации температуры шунтирующих/блокирующих диодов, постав
ляемых вместе с испытуемым образцом. Следует принять меры по минимизации возможного измене
ния каких-либо характеристик шунтирующих/блокирующих диодов или путей теплоотвода при установ ке
средств измерения температуры.
Примечание 1—Для измерения и регистрации температуры шунтирующих/блокирующих диодов может
использоваться ИК-камера.
Примечание 2 — Под температурой диода имеется в виду температура той части диода, тепловое со
противление между которой и переходом указано изготовителем в сопроводительной документации или может
быть найдено по типу диода (как правило, это корпус диода).
Примечание 3 — Если используется замещающий образец, средства измерения температуры диода(ов)
могут быть установлены при изготовлении замещающего образца (см.10.8.2);
0 средства измерения и регистрации напряжения с погрешностью не более ± 0.5.
10.18.4 Проведение испытаний
Испытания должны проводиться при температуре испытуемого образца (75 ± 5) °С. Во время ис
пытаний образец не должен подвергаться освещению.
1) Замыкают все блокирующие диоды, если они установлены в испытуемом образце.
39