ГОСТРИСО 27911—2015
5.4.10 Режим контраста
В зависимости от выбора режима контраста могут быть получены различные значения латераль
ного разрешения даже при использовании одного и того же образца. В настоящем стандарте описан
только флуоресцентный режим для определения латерального разрешения БСОМ.
6 Измерение латерального разрешения с помощью формирования
изображения очень маленького объекта
6.1 Общая информация
Создание изображения очень маленького объекта для оценки латерального разрешения имеет
определенное преимущество — может быть получен двумерный профиль, содержащий информацию о
ТРФ БСОМ из единичного изображения БСОМ (см. рисунок 1). Латеральное разрешение может быть
определено как ШПВ ТРФ. Так как конечный размер малого объекта соответствует наблюдаемому раз
меру объекта в изображении БСОМ. следует понимать, что наблюдаемое изображение объекта есть
свертка ТРФ и пространственного разрешения малого объекта. В данном методе может быть использо
ван широкий ассортимент образцов и наночастиц, таких как наноразмерные полимерные шарики [4]. КТ [5]
и одиночные молекулы (6]—[7]. Для минимизации возможного влияния контраста от топографии по
верхности должно быть использовано построение изображения пофотолюминесценции стоксова сдви га
для уменьшения фонового оптического сигнала, а размер частиц должен быть маленьким по
сравнению с ожидаемым разрешением БСОМ.
4
X — расстояние, У — интенсивность люминесценции. 1 — зонд БСОМ, 2 — наночастицы в полимерной пленке.
3 — подложка. 4 — изображение БСОМ
Рисунок 1 — Получение БСОМ изображения наночастиц или КТ (ШПВ поперечного среза профиля используется
для достижения латерального разрешения инструмента БСОМ)
6.2 Выбор образца и требования к нему
В данном методе в качестве образца может быть использован любой вид малых флуоресцирую
щих объектов. Известно, что при размере объекта в ’/«от латерального размера луча влияние на полу
ченную ШПВ составляет 1% для гауссового луча и 3 % ШПВ для лоренцева луча соответственно [15].
В настоящем стандарте латеральный размер объекта должен быть менее 1/4ожидаемого
латерального разрешения, и с целью минимизации топографических артефактов топографические
высоты объектов должны быть менее V10ожидаемого латерального разрешения.
6.3 Настройка параметров перед использованием микроскопа
Поскольку изображение БСОМ сильно зависит от навыков оператора и параметров эксперимента,
разными операторами могут быть получены различные значения разрешения БСОМ. даже при исполь
зовании точно таких же параметров. Таким образом, степень правильно полученного оптимизированно-
5