ГОСТ Р ИСО 27911-2015; Страница 18

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы

ГОСТ 12.4.287-2015 Система стандартов безопасности труда. Фильтрующая защитная одежда от паров, газов токсичных веществ. Технические условия (Настоящий стандарт распространяется на фильтрующую защитную одежду, предназначенную для работы в условиях превышения установленных предельно допустимых концентраций вредных веществ в воздухе рабочей зоны в соответствии с ГОСТ 12.1.005. Настоящий стандарт распространяется на фильтрующую защитную одежду, изготовленную с использованием химзащитных фильтрующе-сорбирующих тканей на основе неуглеродных сорбентов и обеспечивающую защиту кожных покровов работника от воздействия паровой и газовой фазы токсичных химических веществ I, II, III классов опасности кожно-резорбтивного действия. Покровные слои фильтрующей защитной одежды защищают от открытого пламени или капель кислот с концентрацией до 50 %. Настоящий стандарт не распространяется на фильтрующую защитную одежду, изготовленную с использованием химзащитной фильтрующе-сорбирующей ткани на основе углеродных сорбентов) ГОСТ 20845-2002 Креветки мороженые. Технические условия Frozen shrimps. Specifications (Настоящий стандарт распространяется на креветки: гребенчатую Pandalus hypsinotus, гренландскую Lebbeus groenlandica, равнолапую Pandalus multidentatus, северную Pandalus borealis, углохвостую Pandalus goniurus, чилим травяной Pandalus latirostris, шримс-медвежонок Soleroorangon salebrosa, замороженные в сыром или вареном виде и изготовляемые для внутреннего рынка и экспорта) ГОСТ 20272-2014 Ткани подкладочные из химических нитей и пряжи. Общие технические условия (Настоящий стандарт распространяется на готовые подкладочные ткани бытового и ведомственного назначения, вырабатываемые из химических нитей в основе и химических нитей или пряжи в утке. Стандарт не распространяется на подкладочные ворсовые ткани и трикотажные полотна)

Страница 18

Страница 1

Untitled document

ГОСТР ИСО 27911—2015

Библиография

[1] Roy D-, Leong S.H.. and Welland M.E., Dielectric contrast imaging using apertureless scanning near-fleld optical

microscopy m the reflection mode. J. Korean Phys. Soc., 47. Suppl. 1. Aug. 2005. pp. 140— 146

[2] Paesler M.A.. and Moyer P.J.. Near-Field Optics. Ch. 2. John Wiley and Sons (1996)

(3J KalkbrennerT.. Graf M.. Durkan C.. MtynekJ.,and SandoghdarV.. High contrast topography-free sample for near-field

optical microscopy. Appl. Phys. Lett.. 76 (2000). pp. 1206— 1208

[4] lanoul A.. Street M.A. Grant D.. Pezacki J.. Taylor R.S., and Johnston L.J.. Near-Field Scanning Fluorescence

Microscopy Study of Ion Channel Clusters In Cardiac Myocyte Membranes. Blophys. J.. 87 (2004). pp. 3525—3535

[5] Salki T.. Nishi K.. and Ohtsu M.. Low temperature near-field phototummescence spectroscopy of InGaAs single

quantum dots. J. J. Appl. Phys.. 37 (1998). pp. 1638— 1642

[6] Van hulst N.F., Veerman J.A.. Grcia-Parajd M.F.. and Kulpers L.. Analysis of Individual (macro)molecules and proteins

using near-fleld optics. J. Chem. Phys., 112 (2000). pp. 7799—7810

[7] Hosaka N.. and Salki T., Near-field fluorescence imaging of single molecules with a resolution in the range of 10 nm.

J. Microscopy. 202 (2000). pp. 362—364

[8] Hosaka S.. Shmtan! T., Klkukawa A., and Itoh K.. Evaluation of nano-optical probe from scanning near-fleld optica!

microscope Images. J. Microscopy. 194 (1999). p. 369

[9] Muller M., Introduction to Confocal Fluorescence Microscopy. Ch. 1. SPIE — The International Society for Optical

Engineering (2006)

[10] Bethe H.A.. Theory of Diffraction by Small Holes, Phys. Rev., 66 (1944), pp. 163— 182

[11] Hecht, et at.. Facts and artefacts in near-fteld optical microscopy. J. Appl. Phys., 81 (1997). pp. 2492—2498

[12] Veerman J.A., Otter A.M.. Kulpers L.. and van Hulst N.F., High definition aperture probes for near-field optical

microscopy fabricated by focused ion beam milling, Appl. Phys. Lett.. 72 (1998). pp. 3115— 3117

[13] Pohl D.W., Denk W., and Lanz M.. Optical stethoscopy: Image recording with resolution

)J2

0. Appl. Phys. Lett..

44 (1984). pp. 651—653

[14] Valaskovic G.A.. Holton M.. and Morrison G.H.. Parameter control, characterization, and optimization in the fabrication

of optical fiber near-field probes. Appl. Opt.. 34 (1995), pp. 1215— 1228

[15] ISO 18516. Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy —

Determination of lateral resolution, and Wilkemg G.. and Koenders L„ Nanoscale calibration standards and methods.

Ch. 21. Wiley-VCH (2005)

[16] Van Den Bout D.A.. Kerlmo J.. Higgins D.A.. and Barbara P.F.. Near-field optical studies of thln-film mesostructured

organic materials. Acc. Chem. Res.. 30 (1997). pp. 204—212

[17] Koberllng F.. Mews A., and Basche T., Oxygen-Induced blinking of single CdSe nanocrystals. Advanced Materenals.

13 (2001). p. 672. Kim O.. OkamotoK.. Goldner L.S.. and Hwang J.. Characterization of single functionalized quantum

dots using combined atomic force and confocal fluorescence microscopy. Proceedings of SPIE. 6096

(2006). p 60960G-3, and Sonnefraud Y.. Chevalier N.. Motte J.-F., and Huant S.. Near-fleld optical imaging with a

CdSe single nanocrystal-based active tip. Optics Express. 22 (2006). pp. 10596— 10602

[18] Seu J.. Pandey A.P.. Haque F.. Proctor E.A.. Ribbe A.E.. and Hovis J.S.. Effect of Surface Treatment on Diffusion and

Domain Formation in Supported Lipid Bilayers. Biophysical Journal. 92 (2007). pp. 2445—2450

[19] Selvin P.R.. and H A. T.. Editors. Single Molecule Techniques: A Laboratory Manual. Ch. 2. p. 23. Cold Spring Harbor

Laboratory Press (2008)

[20J Liu J.. Nemchuk N.I.. Ast D.G.. and Couillard. J.G.. Etch rate and surface morphology of plasma etched glass and

glass-ceramic substrates. J. Non-CrystaBlne Solids. 342 (2004). pp. 110—115

[21] The NSOM fluorescence images Clause A.2 were viewed and analysed with the free software available from Horcas. I..

Fernandez, R.. Gomez-Rodnguez. J.M., Colchero. J.. Gomez-Herrero. J.. and Baro, A.M.. WSXM: A software for

scanning probe microscopy and a tool for nanotechnology. Rev. Scl. Instrum.. 78, Article No. 013705 (2007)