ГОСТ IEC 60730-1—2011
Испытание проводится в термокамере при наибольшей из следующихтемператур:
-на(20± 2)°С[(15 ± 2)”С дляуправляющих устройств, предназначенных для встраивания в прибо
ры. входящие в область распространения IEC 60335-1]больше максимальной температуры, измерен
ной при проведении испытаний по разделу 14. или
- (75 ± 2)еС или
- при температуре в соответствии с декларацией.
Перед началом испытаний подставка и шарикдолжны иметь указанную испытателы<ую темпе
ратуру.
Через 1ч шарикудаляют с образца, образец охлаждают приблизительно до комнатнойтемпера
туры. погружая егона Ю се холодную воду. Измеряемый диаметр отпечатка шарика не долженпревы
шать 2 мм.
П р и м е ч а н и е — Испытание не проводят на частях, изготовленных из керамических материалов.
21.2.6 Второе испытаниедавлением шарика
Испытание давлением шарика проводится по 21.2.5. но температура в термокамере должна
составлять (Ть± 2)°С. где.
Тьравна наибольшему изследующих значений:
-100 °С. если Тыакссоставляет 30 °С и выше, но не превышает 55еС:
-125 °С для управляющих устройств, предназначенных для встраивания в приборы, входящие
в область распространения IEC 60335-1 (за исключением управляющих устройств, встраиваемых
в шнуры), и для других управляющих устройств, когда Гмакс составляет 55 °С и болев, но не превы
шает 85 °С;
- (Тмаие♦ 40) °С. если Гиа(С= 85 °С или выше:
- на 20 К больше максимальной температуры, достигнутой при проведении испытаний по
разделу 14. если при этом значение температуры оказывается более высоким:
- см. приложение Н.
П р и м е ч а н и е — Даннов испытание не проводят на частях, изготовленных из керамических материалов.
21.2.7 Все неметаллические части, для которых определены пути утечки в подразделе 20.2, должны
бытьстойкими к образованию токоведущих мостиков всоответствии сдекларацией.
П р и м е ч а н и е — Установленные значения стойкости к образованию токоведущих мостиков даны либо
в части 2 IEC 60730, либо в соответствующих стандартах на оборудование.
Управляющие устройства, предназначенные для работы при сверхнизком напряжении, не подверга
ют испытанию на стойкость к образованию токоведущих мостиков.
П р и м е ч а н и е — Внутри управляющего устройства различные части могут иметь разные значения КИТ
в соответствии с микроусловиями окружающей среды.
Соответствие требованию проверяют испытаниями по G.4 приложения G. проводимыми при
напряжениях, указанных в таблице 7.2. пункт 30:
-100 В:
-175 В:
- 250 В:
- 400 В:
- 600 В.
П р и м е ч а н и е — Для целей настоящего испытания близость искрящихся контактов не рассматривают как
фактор, повышающий осаждение внешнего проводящего материала, как это считают при испытаниях по разделу 17.
за которым следует испытание на электрическую прочность по разделу 13. а считают достаточным определе ние
воздействия загрязнения внутри управляющего устройства.
21.3 Управляющие устройства с независимым монтажом
21.3.1 Предварительное кондиционирование
Предварительное кондиционирование устройств выполняется в термокамере перед проведением ис
пытаний по 21.3.2—21.3.5 следующим образом:
- если не указаны номинальные значения температуры: 1 х 24 ч при температуре (80 ± 2) °С. при этом
цепь переключающей части и приводной механизм не подключают, а съемные крышки удаляют;
87