ГОСТ Р МЭК 62209-1—2008
7.22.4.2 Неопределенность измерений, обусловленная положением испытуемого устройства, при
использовании конкретного держателя испытуемого устройства: тип А
Отклонение реального положения испытуемого устройства от положения, установленного в настоя
щем стандарте, зависит от точности средств позиционирования устройства, а также от понимания требова
ний настоящегостандарта лицом, проводящим испытание. Помимо этого, значениеданного отклонения и
его влияние на предельные пространственно усредненные значения коэффициента удельного поглоще
ния энергии зависят от конструкции испытуемых устройств. Поскольку все эти параметры неразделимы,
требуется проведение описанных ниже испытаний по типу А.
7.2.2.4.2.1 Неопределенность позиционирования конкретного испытуемого устройства в конкретном
держателе
Для конфигураций и положений испытуемых устройств, оцениваемых при измерении предельного
пространственно усредненного удельного поглощения энергии, проводят не менее четырех дополни
тельных испытаний с тем, чтобы общее число испытаний N было >5. Выраженное в процентах стандартное
отклонение среднего значения рассчитывают при условии, что число степеней свободы v, = N — 1.
7.2.2.4.2.2 Неопределенность позиционирования конкретных типов испытуемых устройств в конк
ретном держателе
Анализ неопределенности измерений потипу А может быть проведен применительно к группе из М
испытуемых устройств с одинаковой формой и параметрами распределения коэффициента удельного
поглощения энергии. Число М должно быть не менее шести, при этом каждое из М испытаний выполняется N
раз в соответствии с требованиями 7.2.2.4.2.1. Половину из М испытаний выполняют с устройством в
положении «вдоль щеки», а вторую половину — с устройством в «наклонном» положении. Соответствую
щую неопределенность оценивают с использованием среднеквадратического значения М индивидуаль
ных стандартных отклонений. Значение неопределенности, подлежащее занесению в таблицу 3. должно
представлять собой стандартную неопределенность при
к
= 1 и соответствоватьдоверительной вероятно
сти 68 %. Число степеней свободы vt = (N М) - 1. При определении неопределенности измерений с
помощью данной процедуры испытания отдельно взятых устройств в соответствии с 7.2.2.4.2.1 могут не
потребоваться. Учитывая изменение конструкции испытуемых устройств, рекомендуется обновлять базу
данных ежегодно.
7.2.3 Влияние физических параметров
7.2.3.1 Введение
Методы испытанийдиэлектрических параметров подробно описаны в приложении J. а методы вычис
ления неопределенности измерений — в J.7 того же приложения.
П р и м е ч а н и е — Рекомендуется, чтобы неопределенность измерений каждого из диэлектрических
параметров не превышала допустимого отклонения от заданных значений измеряемых диэлектрических пара
метров.
7.2.3.2 Плотность жидкости
Предполагается, что плотность тканеэквивалентных жидкостей с соответствующими электромагнит
ными параметрами равна 1000 кг/м3.Данное значение плотности используется при определении коэффи
циента удельного поглощения энергии.
7.2.3.3 Проводимостьжидкости
Неопределенность, связанная с проводимостью жидкости, имеет два источника. Первый источник
неопределенности измерений — допустимое отклонение
±
5 % заданного значения, представленного в
таблице 1; второй источник неопределенности измерений — методы измерения проводимости. Оценку нео
пределенности измерений проводят с учетом прямоугольного распределения вероятности (см. приложе
ние J, раздел J.7).
7.2.3.4 Диэлектрическая проницаемость жидкости
Неопределенность, связанная сдиэлектрической проницаемостью жидкости, имеет два источника.
Первый источник неопределенности измерений — допустимое отклонение
±
5 % заданного значения,
представленного в таблице 1; второй источник неопределенности измерений — методы измерения диэлек
трической проницаемости. Оценку неопределенности измерений проводят, исходя из прямоугольного рас
пределения вероятности (см. приложение J. раздел J.7).
7.2.3.5 Колебания выходной мощности испытуемого устройства, параметров зонда, температуры и
влажности
Учет отклонений и ухода параметров, вызываемых электронной частью испытуемого устройства и
измерительного оборудования, а также температурой и влажностью, проводят на первом и последнем
27