Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 29.12.2025 по 04.01.2026
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями

ГОСТ IEC 62341-1-2-2016; Страница 8

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ 7307-2016 Детали из древесины и древесных материалов. Припуски на механическую обработку Parts of wood and of wood materials. Machining allowances (Настоящий стандарт распространяется на детали из древесины и древесных материалов и устанавливает припуски на первичную и повторную механическую обработку по толщине, ширине и длине при изготовлении деталей из пиломатериалов и заготовок хвойных и лиственных пород, сборочных единиц типа щитов, рамок, коробок и ящиков, а также припуски на обработку по длине и ширине при изготовлении гнуто-клееных заготовок и деталей из них, заготовок (облицовок) из строганого и лущеного шпона, деталей, элементов из облицованных и необлицованных столярных, древесно-стружечных, древесно-волокнистых плит сухого и мокрого способов производства фанеры, ламинированных напольных покрытий и декоративных панелей для стен из древесно-волокнистых плит сухого способа производства) ГОСТ Р 53394-2017 Интегрированная логистическая поддержка. Термины и определения Integrated Logistic Support. Terms and Definitions (Настоящий стандарт устанавливает термины и определения основных понятий, используемых в области интегрированной логистической поддержки процессов технической эксплуатации изделий и других объектов техники. Термины, установленные в настоящем стандарте, обязательны для применения во всех видах документации, входящей в область применения стандарта) ГОСТ Р 57394-2017 Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность Integrated circuits and semiconductor devices. Methods of accelerated tests for non-failure operation (Настоящий стандарт устанавливает методы ускоренных испытаний на безотказность полупроводниковых интегральных микросхем и полупроводниковых приборов (далее - изделий), предусматривающие форсирование режимов эксплуатации)
Страница 8
Страница 1 Untitled document
ГОСТ IEC 62341-1-22016
2.2.28 панель на органических светодиодах, дисплейная панель на органических свето
диодах (organic light emitting diode panel, organic light emitting diodedisplay panel): Дисплейная панель на
органическихсветодиодах без внешних устройств запуска.
2.2.29 адресация пассивной матрицы (passive matrix addressing): Метод запуска матрицы, при
котором каждый пиксель или субпиксельадресуется непосредственно за счет подаваемых сигналов по
линии адресации и линииданных.
2.2.30 PIN органический светодиод (PIN organic light emitting diode): Органический светодиод с
проводящим легированием.
П р и м е ч а н и е Си. термины «р-HTL» и «л-ETL».
2.2.31 полимерный органический светодиод (polymer organic light emitting diode): Светодиод,
в котором свет излучается полимерными материалами.
П р и м е ч а н и е Иногда используют термин «полимерный светодиоде.
2.2.32 сегментныйдисплей (segment display):Дисплейное устройство, отображающеефиксиро
ванные испытательные изображения, выполненные из сегментных электродов, которые могут быть
разными по размеруи ориентации.
2.2.33 наборный светодиод/наборный OLED, тандемный светодиод/тандемный OLEO
(stacked organic light emitting diode/stacked OLED. tandem organic light emitting diode/tandem OLED): По
крайней мере, два единичных устройства OLED. установленные встречнодругдругу.
П р и м е ч а н и е Интерфейс между единичными устройствами OLED формируется не анодно-катодной
парой, а обеспечивается споем с генерацией зарядов.
2.2.34 стандартный источник света (standard light source): Источник света, аппроксимирующий
заданный источник света, например, источникисвотаА и D65рекомендованные CIE.
2.2.35 стандартная эталонная атмосферная среда (standard reference atmosphere): Эталонные
атмосферные условия, которыо используют для нормирования данных, измеренных при других
атмосферных условиях.
2.2.36 статический запуск (static driving): Метод запуска, при котором все пиксели активируются
одновременно ипостоянно.
2.2.37 «вершинная» эмиссия (top emission): Структура устройства, при которой почти весь свет
от наружной поверхности излучается от верхней поверхности подложки, на которой сформировано
устройство OLED.
2.2.38 прозрачный дисплей (transparent display): Дисплей, в котором область отображения
визуально прозрачна.
2.3 Термины, относящиеся кфизическим свойствам
2.3.1 плотность носителязаряда (chargecarrier density): Плотностьподвижныхэлектронови/или
дырок в веществе(материале).
П р и м е ч а н и е Выражается в см’3
2.3.2 температура кристаллизации (crystallization temperature): Температура, при которой
вещество при охлаждении переходит из жидкого состояния, расплавленного состояния или из формы
раствора в кристаллическоесостояние.
П р и м е ч а н и е В случае аморфного вещества это температура, при которой вещество переходит в час
тично или полностью кристаллическое состояние.
2.3.3 спектр электролюминесценции (electroluminescence spectrum): Спектральное распреде
ление света, излучаемого в процессеэлектролюминесценции.
2.3.4 коэффициентизлучения/эмиссии (emission ratio): Отношениедвухусредненных значений
яркости надвух сторонах/поверхностях органического светодиода (OLED).
П р и м е ч а н и е Отношение приводят в нормированном виде, начиная с наибольшего значения. Мень
шее значение нормируется к единице.
2.3.5 внешняя квантовая эффективность/вношний квантовый выход (external quantum
efficiency): Отношение количества фотонов, излучаемых органическим светодиодом, деленное на
количество инжектируемыхэлектронов или дырок.
з