ГОСТ IEC/TR 60825-13—2016
Особый случай анализа для матричных источников при условии, что каждый отдельный источник
является малым (os S 1.5 мрад), рассмотрен в 7.5.4. Простые источники с некруговыми диаграммами
излучения приведены в 7.5.4.5. Некоторые положения, относящиеся конкретно к оценке сканирующих
лазеров приведены в 7.8.
7.5.2 Местоположение эталонной/опорной точки
Для малых источников и для всех источников при условии, что коэффициент С6 = 1. предел до
пустимого изучения/эмиссии можно измерить на определенном заранее расстоянии от эталонной/опор
ной точки. Эталонные точки приведены в таблице 1. Для случая диффузных источников и полупрово
дниковых излучателей или излучателей большой площади без модифицирующей оптики эталонные
точки для определения предела допустимого излучения/эмиссии. приведенные в таблице 1. справед
ливы также для измерений средних и больших источников с использованием коэффициента С6 > 1.
Т а б л и ц а ! — Эталонные токи
Тип аппаратуры
Эталонная/опорная точка
Полупроводниковые излучатели (лазерные диоды, су-
перпюминесцентные диоды)
Физическое местоположение излучающего чипа
Сканирующая эмиссия (включая сканирующие линей-
ныв лазеры)
Вершина сканирования (центр вращения сканирующе-
го пучка)
Линейный лазер
Фокальная точка линии/строки (вершина веера углов)
Выход оптоволокна
Кончик оптоволокна
Диффузные источники
Поверхность диффузора
Другие
Перетяжка/сужение пучка
П р и м е ч а н и е 1— Если эталонная точка находится внутри защитного кожуха (т.е. недоступна) на рас
стоянии от ближайшей точки доступа человека. которое больше чем измерительное расстояние, указанное в
IEC 60825-1:2007. измерение следует проводить в ближайшей точке доступа человека.
Методы оиенки места сужения пучка, приведенные ниже, можно использовать для малых источников
и Гауссовых пучков. Необходимым условием, когда оценка будет считаться приемлемой, является то. что
анализ осуществляется в позиции расположенной за пределами Релеевского диапазона, где
применяют геометрическую.’лучевую оптику, и можно (и нужно) использовать дивергенцию поля в дальней
зоне.
П р и м е ч а н и е 2 — Информацию поместоположению видимого источника можно найти вработе Энрико
Гальбьяти {Enrico Galbiati) «Оценка видимого источника влазерной безопасности» (см. раздел «Библиография»),
Измерение проводят в следующей последовательности:
- выбирают удобную эталонную плоскость (и убедитесь, что дивергенция постоянна, т.е. эталон
ная плоскость находится в дальнем поле);
- определяют угол расхождения в дальнем поле. 0. Перетяжка/сужение пучка находится на рас
стоянии.
г.
от эталонной плоскости (см. рисунок 7) по формуле
r-(d)I(
2 tan(0/2)),
где
г—
расстояние от эталонной плоскости до виртуальной точки фокуса малого источника.
ннетр пучки
9
аыбршно
Д
чести п№ НЙ платности
й
ишу>вния не эп-еллмэ*
плоскости
Рисунок7 — Местоположение перетяжки пучка при Гауссовом пучке
15