ГОСТ IEC/TR 60825-13—2016
гнозируемых условий единичной неисправности. Если в состав конечной лазерной аппаратуры входит
другая лазерная аппаратура или системы, то соответствовать положениям IEC 60825-1:2007 должна
конечная аппаратура.
Измерения следует проводить детектором измерительного прибора, размещенным и ориентиро
ванным относительно лазерной аппаратуры таким образом, чтобы прибор обнаруживал максимальное
излучение. Т. е., детектор необходимо перемещать или менять угол его наклона для получения макси
мального показания прибора. Следует предпринять определенные меры, чтобы не допустить или ис
ключить «вклад» сопутствующего излучения в результат измерения. Например, может потребоваться
проводить измерения на некотором расстоянии от выхода лазерной системы, чтобы не допустить ис
кажения данных при излучении от импульсных ламп или лазеров с диодов с иакачкой/диодных лазеров. В
качестве другого примера можно привести необходимость отфильтровать сопутствующее излучение
линейным/сетевым фильтром.
5 Требования к контрольно-измерительной аппаратуре
Используемая контрольно-измерительная аппаратура должна соответствовать IEC 61040. Опре
деление класса контрольно-измерительной аппаратуры, используемой при измерениях {от 1 класса до
20 класса, обеспечивающих приблизительное значение возможной неопределенности измерения)
зависит от требуемой точности измерения.
При использовании контрольно-измерительной аппаратуры, которая не в полной мере соответ
ствуют требованиям IEC 61040, следует оценивать отдельные вклады разных параметров в суммарную
неопределенность измерения по отдельности.
Рассматривают основные положения, приведенные в IEC 61040. вопросы:
- изменение чувствительности от времени.
- неоднородность чувствительности по поверхности детектора;
- изменение чувствительности во время облучения:
- зависимость чувствительности от температуры;
- зависимость чувствительности от угла падения;
- нелинейность;
- зависимость чувствительности от длины волны;
- зависимость чувствительности от поляризации,
- погрешности при усреднении импульсно-периодического излучения во времени;
- дрейф нуля;
- неопределенность калибровки.
Калибровка должна быть прослеживаемой в соответствии с требованиями национальных стан
дартов.
Испытания для определения неопределенностей измерения контрольно-измерительной аппара
туры. должны выполняться согласно IEC 61040.
Определение неопределенностей измерения CCD-матриц (матриц с зарядовой связью) и камер
см. ISO 11146-3.
6 Алгоритм классификации
Пределы допустимого(ой) излучения(эмиссии) (AEL) и условия измерения позволяют рассчитать
известные или измеренные параметры аппаратуры. Дополнительно следует провести анализ условий
неисправности, которые увеличивают опасность. Затем по измерению (или нескольким различным из
мерениям) излучения (эмиссии) аппаратуры можно определить находится ли излучение(эмиссия) в
установленных пределах AEL для рассматриваемого класса.
В таблицах 4 — 9 IEC 60825-1:2007 приведены пределы допустимого излучения (эмиссии)
(AEL). В строках указанных таблиц приведены диапазоны длин волн, а в столбцах — длительность
излучения(эмиссии). На пересечении каждой строки и каждого столбца указаны одна или несколько
формул, в которых есть параметры, определенные в таблице 10 IEC 60825-1:2007.
Алгоритм классификации представлен на рисунках 1 и 2. Первым шагом является использование
стандартной упрощенной оценки согласно 9.3.2 IEC 60825-1:2007. В нем рассматривают пучок, который
будет излучать малый (точечный) источник с коэффициентом Сб = 1 — консервативный подход, если
4