ГОСТ Р 56924—2016
Цифровой файл с рентгеновским снимком экспортируют в программу анализа серого цве
та (7.14.2.3). Оценивают число оттенков серого цвета, используя измерительный инструмент этой
программы. Число серых оттенков в цифровом виде определяется по числу двойных цифр (битов),
применяемых в определении пикселя.
С помощью программы анализа со шкалой серого оттенка определяют прямоугольную площадь
в изображении образца иизмеряютсреднее значениестепени серого цвета на этой площади.
Этот процесс повторяютдля каждой ступени клина.
В соответствии с построением шкалы серого цвета самый темный оттенок серого обычно обозна
чают как нуль, а самый светлый — значением 255. Такой порядок является обратным по отношению к
оценке плотности рентгеновской пленки.
7.14.6 Обработка результатов
Строят график зависимости оптической плотности/степеньсерогоот толщиныступениалюминие
вого клина (см. рисунок 9 для аналоговой установки и рисунок 10 для цифровой установки). Берут зна
чение плотности/степени серого для образца толщиной Ssи определяют по графику соответствующие
значениядляалюминия, 8,. Значение рентгеноконтрастностиобразца толщиной 1.0 мм (эквивалентное
алюминию)получаютпосоотношениюЕсли этозначениеболее или равно 1мм. материалсчитают
соответствующим первому требованию 5.5. Если изготовитель материала указал значение рентгено
контрастности [см. 8.2.3. перечислениеа) и8.3. перечислениео)], тогдазначениеэквивалентноеалюми
нию должно быть не более, чем на 0.5 мм меньше значения, указанного изготовителем. График
зависимости оптической плотности от толщины ступени алюминиевого клина следует строить для
каждой экспозиции рентгеновского облучения, т. к. это приводит к меньшим отклонениям в результатах
испытаний.
X — ступени алюминиевою клина, высоты ступени, мм; У — оптическая плотность: 1 — показатель плотности для образца:
2 — соответствующее значение для алюминия
Рисунок 9 — Определение рентгеноконтрастности. График зависимости оптической плотности
от толщины ступени алюминиевого клина и сопоставление со значением рентеноконтрастности образца.
определенном на аналоговой установке
19