ГОСТРМЭК 61853-1— 2013
8.5.6 Энергетическая освещенность F, определяется по измеренному значению тока короткого
замыкания эталонного прибора (/„) и его калибровочному значению (/„ эСУИ). измеренному при СУИ.
Расчет производят по формуле
Е,
>.|1
_
Хпсуи(Т - Г „уй)).
» СУИ
где Т3 - температуры эталонного прибора во время измерений;
и
^
суи
- температурный коэффициент тока короткого замыкания эталонного прибора. 1/°С;
Есуи - энергетическая освещенность, на которую откалиброван эталонный прибор, как правило
Есуи = 1000 Вт/м2:
7,Суи - температура, при которой произведена калибровка эталонного прибора: как правило
ГэСУИ = 25 “С.
Если спектральная чувствительность эталонного прибора отличается от спектральной чувстви
тельности испытуемого образца, необходимо провести корректировку всех измеренных значений Е по
формуле (1), приведенной в МЭК 60904-7, для пересчета к спектруAM 1,5.
8.5.7 Если при выполнении дальнейших измерений /„. Uxx. Uuatc и Pmax no 8.3.5 изменяется энер
гетическая освещенность при постоянной температуре, уменьшают энергетическую освещенность до
требуемого значения без изменения ее относительного пространственного распределения. Значение
энергетической освещенности в конкретной точке измерений F, (в приведенных ниже способах а>-е)
определяют по формуле
F - K - E .
где
к
, - коэффициент, определяемый в процессе измерений.
Для уменьшения энергетической освещенности рекомендованы следующие способы:
a) увеличение расстояния от лампы до плоскости измерения. При этом рабочая поверхность эта
лонного прибора должна располагаться в одной плоскостис рабочей поверхностью испытуемого образца.
Коэффициент
к
.равен отношению тока короткого замыкания эталонного прибора, измеренному после из
менения положения лампы, к калибровочному значению тока короткого замыкания эталонного прибора.
b
) использование оптических линз. При этом следует убедиться в том, что линзы не влияют замет
ным образом на спектральное распределение излучения в диапазоне чувствительности испытуемого
образца и эталонного прибора, а также не нарушают пространственной однородности энергетической
освещенности в плоскости измерения. Коэффициент
к
, равен отношению тока короткого замыкания
эталонного прибора, измеренному после установки линзы, к калибровочному значению тока короткого
замыкания эталонного прибора.
c) изменение угла падения света. При использовании данного способа расстояние между источни
ком света и испытуемым образцом должно быть достаточно большим в целях исключения неоднород
ности энергетической освещенности рабочей поверхности образца (неоднородность не должна пре
вышать 2 %). Эталонный прибор должен иметь такую же отражающую способность, как и испытуемый
модуль, и должен быть смонтирован таким образом, чтобы его рабочая поверхность была компланарна
рабочей поверхности испытуемого образца в пределах
±
1°. Коэффициент Правей отношению тока ко
роткого замыкания эталонного прибора, измеренному после изменения угла, к калибровочному значе
нию тока короткого замыкания эталонного прибора. Изменяя угол падения света, измеряя ток короткого
замыкания эталонного прибора, последовательным приближением добиваются требуемого значения
энергетической освещенности.
d) использование откалиброванных сеточных фильтров с однородной плотностью сетки, которые
не изменяют спектрального распределения света. При этом эталонный прибор не должен быть закрыт
фильтром, чтобы обеспечить измерение энергетической освещенности в процессе испытаний. Коэф
фициент
к
, является калибровочным параметром фильтра (долей пропускаемого света).
е)использование некалиброванныхсеточных фильтровсоднороднойплотностьюсетки, которые
не изменяют спектрального распределения света. При этом эталонный прибор должен находиться
в зоне действия фильтра (под фильтром) в течение испытаний и иметь линейную зависимость тока
короткого замыкания в соответствии с МЭК 60904-10. Коэффициент
к
, равен отношению тока короткого
замыкания эталонного прибора под фильтром к калибровочному значению тока короткого замыкания
эталонного прибора.
0 измерение рабочих характеристик образца при различных значениях энергетической
освещенности на фронте затухания световой вспышки, генерируемой импульсным имитатором
10