ГОСТРМЭК 61853-1— 2013
зоне условий и повышения точности измерений снятие данных следует проводить в течение не менее
трех ясных дней.
8.3.3 Устанавливают эталонный прибор (отвечающий требованиям МЭК 60904-2) в плоскости,
компланарной плоскости модуля на следящей системе с двумя осями слежения, таким образом, чтобы
солнечное излучение поступало перпендикулярно рабочим поверхностям модуля и эталонного прибо
ра с точностью
±
2°. Подключают необходимые измерительные приборы.
П р и м е ч а н и е - Описанные ниже измерения следует производить в максимально короткие сроки в те
чение нескольких часов одного светового дня. чтобы минимизировать влияние изменения спектрального состава
солнечного света. Если это не выполнено, могут потребоваться спектральные поправки.
8.3.4 Если испытуемый модуль и эталонное устройство снабжены средствами регулирования тем
пературы. устанавливают требуемое значение температуры. Если такое регулирование температуры не
может быть использовано, то.
a) ставят экран, защищающий испытуемый модуль и эталонный прибор от солнца и ветра, дожи
даются. когда температуры испытуемого модуля и эталонного прибора установятся на уровне темпера
туры окружающего воздуха с отклонением в пределах
±
2°С. или
b
) дожидаются, пока температура испытуемого модуля и эталонного прибора стабилизируются.
или
c) создают условия, при которых температура испытуемого модуля и эталонного прибора станет
ниже требуемого значения, после чего дают им нагреться до требуемого значения температуры есте
ственным путем.
П р им еч ани е - В процессе нагрева средняя температура элемента может отличаться от средней темпе
ратуры тыльной поверхности модуля. В этом случае может быть использована методика определения температу ры
по изменению напряжения холостого хода за время измерения, установленная в МЭК 60904-5.
8.3.5 После того как температура достигнет требуемого значения, удаляют экран (если он исполь
зуется) и в течение минимально возможного интервала времени измеряют температуру испытуемого
модуля и его ВАХ (по крайней мере значения /м, Uxx, Uuaxc и Ртах). температуру и ток короткого за
мыкания эталонного прибора, спектральное распределение энергетической освещенности с помощью
спектрорадиометра (если соответствующий эталонный прибор не используется).
8.3.6 Энергетическую освещенность Е определяют по измеренному значению тока короткого за
мыкания эталонного прибора (/м э) и его калибровочному значению (/„ эсуи). измеренному при СУИ.
Расчет проводят по формуле
" о а СУИ
где Тэ - температура эталонного прибора во время измерений:
и,ЪСуи “ температурный коэффициент тока короткого замыкания эталонного прибора. 1/5С;
Есуи - энергетическая освещенность, на которую откалиброван эталонный прибор. Вт/м2; как пра
вило. Е = 1000 Вт/м2;
ГэСУи - температура, при которой была выполнена калибровка эталонного прибора; как правило.
7 ^ = 25 °С.
Если спектральная чувствительность эталонного прибора отличается от спектральной чувстви
тельности испытуемого образца, необходимо провести корректировку в соответствии с МЭК 60904-7.
8.3.7 Если при выполнении дальнейших измерений /0 , Uxx. Uuaxcи Ртах по 8.3.5 изменяется энер
гетическая освещенность при постоянной температуре, уменьшают энергетическую освещенность до
требуемого значения без изменения ее относительного пространственного распределения. Значение
энергетической освещенности в конкретной точке измерений определяют по формуле
Е,=
к
>*Е,
где fc,- коэффициент, определяемый в процессе измерений.
Для уменьшения энергетической освещенности рекомендованы следующие способы:
а)использование откалиброванных сеточных фильтров с однородной плотностью сетки, которые
не изменяют спектрального распределения света. При этом эталонный прибор не должен быть закрыт
фильтром, чтобы обеспечить измерение энергетической освещенности в процессе испытаний. Коэф-
7