ГОСТРМЭК 61853-1— 2013
тировано с помощью эталонных элементов, спектральная чувствительность которых соответствует спектральной
чувствительности испытуемого модуля. Также влияние спектральной зависимости может быть скорректировано
использованием слектрорадиометра с последующим пересчетом результатов измерений, учитывающим несовпа
дение спектральных характеристик. Угловой эффект может быть устранен с помощью самой следящей системы.
8.4 Испытания при естественном солнечном освещении без следящей системы
Второй метод натурных испытаний фотоэлектрического модуля состоит в сборе данных, отно
сящихся к его рабочим характеристикам в течение достаточно продолжительного периода времени, с
последующим выбором данных, соответствующих нормируемым сочетаниям температуры и энергети
ческой освещенности. Критерием применимости данного метода является соответствие условий испы
таний условиям, указанным в 8.3.2. В этом методе применение следящей системы не требуется, но мо
жет потребоваться внесение поправок, вызванных изменением угла падения (см. примечание к 8.3.11).
8.5 Испытания с использованием имитатора солнечного излучения
8.5.1 Состав измерительного оборудования для проведения данных испытаний определен в
МЭК 60904-1.
При испытаниях следует использовать фотоэлектрический эталонный прибор (отвечающий тре
бованиям МЭК 60904-2) с линейной зависимостью тока короткого замыкания (МЭК 60904-10) от энер
гетической освещенности в диапазоне 100-1100 Вт/м2. При применении методов а). Ь). с) и е) 8.5.7
эталонный прибор должен быть герметизирован по той же технологии и с применением тех же матери
алов. что и испытуемый модуль.
Имитатор солнца должен иметь класс ВВВ или лучше в соответствии со стандартом МЭК 60904-9.
П р и м е ч а н и я :
1 Метод и материалы, используемые для герметизации, влияют на оптические и спектральные характери
стики фотоэлектрических приборов. Необходимо убедиться, что спектральные характеристики эталонного прибора
соответствуют спектральным характеристикам испытуемого образца.
2 Эмиссионные лампы типа ксеноновых следует применять с осторожностью при испытаниях модулей
из однопереходных и многопереходных прямоэонных структур. Изменение ширины запрещенной зоны структу
ры (элемента структуры), обусловленное изменением температуры, может привести к пропусканию элементом
(элементами) структуры некоторых эмиссионных пиний лампы, что приведет к значительным сдвигам в рабочих
характеристиках. Для многопереходных прямозонных структур эти изменения ширины запрещенной зоны могут
также изменить баланс токов отдельных элементов структуры, что приведет к дополнительным сдвигам в рабочих
характеристиках.
3 Для многопереходных прямозонных структур как 1кз. так и FF являются нелинейными функциями спек
тральной плотности энергетической освещенности от имитаторов. При измерении таких структур с применением
имитаторов солнечного излучения без настройки спектра могут возникнуть значительные ошибки, так как в этом
случае нарушается баланс токов отдельных элементов, образующих структуру. Так. при измерении тока и напря
жения коммерческих модулей на основе многопереходных структур с применением имитатора класса ААА были
отмечены ошибки измерения более 15 %.
8.5.2 Устанавливают испытуемый прибор и эталонный прибор компланарно в плоскости измере
ний таким образом, чтобы излучение было перпендикулярно рабочим поверхностям модуля и эталон
ного прибора с точностью
±
2 гС. Подключают необходимые измерительные приборы.
8.5.3 Если испытуемый модуль и эталонное устройство снабжены средствами регулирования тем
пературы. устанавливают требуемое значение температуры. Если такое регулирование температуры не
может быть использовано, дожидаются, когда температура модуля и эталонного прибора установят ся на
уровне температуры окружающего воздуха с отклонением в пределах
±
2 СС.
П р и м е ч а н и е - При испытании в условиях нестационарного температурного режима требуется установ
ка термодатчиков в местах, указанных на рисунке 1.
8.5.4 Устанавливают наибольшее требуемое значение энергетической освещенности в плоскости
измерений имитатора по показаниям эталонного прибора.
8.5.5 В течение минимально возможного интервала времени измеряют температуру испытуемого
модуля и его ВАХ (по крайней мере значения /м, U%%,и Pmax), температуру и ток короткого за
мыкания эталонного прибора, спектральное распределение энергетической освещенности с помощью
радиометра (если соответствующий эталонный прибор не используется).
9