ГОСТ Р 50030.4.2— 2012
Приложение I
(обязательное)
Модифицированная цепь для испытания на короткое замыкание
полупроводниковых контроллеров и пускателей
О - испытуемый аппарат <ИЛ) (а том числе соединительные мбепи)
П р и м е ч а н и е — Габариты включают в себя металлический экран или оболочку.
Рисунок 1.1 — Модифицированная цепь для испытания на короткое замыкание
полупроводниковых аппаратов
Стандартные схемы для испытаний на короткое замыкание проиллюстрированы в
Г О С Т Р
5
0030.1 (рисун
к и 9— 12).
Настоящая схема показывает модификацию только одной фазы стандартной однофазной испытательной
цепи для испытаний на короткое замыкание полупроводниковых контроллеров. Модификации каждой фазы для
испытания многофазных аппаратов аналогичны. Единственные изменения, которые необходимо провести, пока
заны на рисунке I.2.
64