ГОСТ Р ИСО/МЭК 15415—2012
80%минимальногоразмераX. Вприменениях, в которыхприсутствуютсимволы сразличнымиразмера
ми X, стандарты по применениюдолжны содержатьтребованиео проведении всехизмерений саперту
рой. подобраннойдлянаименьшегоразмераX. Руководство поразработкестандартовпоприменению и
рекомендации по выборуразмера апертуры приведены в разделе D.2 приложения D.
Эффективная разрешающая способность средства измерения, соответствующего настоящему
стандарту, должнабытьдостаточнойдля обеспечения того, чтобы результаты оценки параметровбыли
постоянными независимо от поворота символа. Эффективная разрешающая способность, определяе
мая как произведение разрешающей способности светочувствительной матрицы икоэффициента уве
личения связанной оптической системы, является результатом искажений, вводимых в оптическую
систему.
В базовойоптическойсхемеэффективнаяразрешающая способностьдолжна быть не менее деся
ти пикселейпо ширине ивысоте модуля.
П р и м е ч а н и е — Конкретные реализации (например, коммерческие верификаторы) могут использовать
меньшее число пикселей на модуль, обеспечивая при этом независимость от поворота символа с помощью тесто
вых символов, установленных в ИСО/МЭК 15426-2.
7.3.4 Оптическая схема
Измерения коэффициента отражения проводят с использованием базовой оптической схемы,
включающей в себя:
- источник падающего светового излучения, создающий равномерное облучение в пределах
области проверки, который представляет собой набор изчетырех источников излучения, размещенных
через 90° по кругу, являющемуся концентрическим по отношению к области проверки, в плоскости,
параллельной области проверки, на высоте, которая позволяет падающемусветовому пучку падать на
центробласти проверки под углом 45° к ее плоскости;
- устройствосборасветовогоизлучения, оптическаяоськоторогоперпендикулярна кобласти про
верки и проходит через ее центр и которое фокусирует изображение испытуемого символа на свето
чувствительной матрице.
Световое излучение, отраженное от области проверки (7.3.5) и дополнительной расширенной
области размером 20Z, установленной в соответствии с 7.7. собирается и фокусируется на свето
чувствительную матрицу.
В конкретныхреализацияхможетбытьиспользованаальтернативнаяоптическаясхема, имеющая
другие составляющие, при условии, чтоеехарактеристикикоррел ируютсясбазовойоптическойсхемой,
установленной в настоящем разделе. Принцип построения оптической схемы приведен на рисунках 3 и
4. Указанные рисунки непретендуютнапредставление конкретныхустройств: какправило, показатель
увеличения оптических устройств отличается от соотношения 1:1. Кроме того, многие устройства вклю
чают в себя фильтрыдля измененияспектральных характеристик излучения или для ограничения влия
ния нежелательных спектральных составляющих. Конкретные реализациидолжны иметь достаточное
разрешение, не зависимое от поворота символа согласно 7.3.3. за исключением случаев, когда изгото
витель представил инструкцию по применению, содержащую ограничения к углу ориентации символа
относительно светочувствительной матрицы камеры.
Настоящая базовая оптическая схема предназначена для обеспечения основы для оценки согла
сованности измеренийи можетне соответствоватьоптической схемедля измерений конкретныхсистем
сканирования. Согласно 7.2 в рамках конкретных специальных применений, особенно в тех из них. где
предусмотрено прямое маркирование изделий, предполагающее физическое изменение поверхности
подложки для создания графического изображения, может возникнуть необходимость использования
других углов падения пучка светового излучения, в частности, установка различных специальных углов
падения пучкасветового излучения, например30° к плоскостисимвола. Если в спецификации поприме
нению установлен иной угол падения светового излучения, не соответствующий значению по умолча
нию, то угол падения светового излучениядолжен бытьуказан в виде четвертого параметра при записи
полногокласса качества символа согласно 5.4.
Модифицированная версия методологии, приведенной в ИСО/МЭКТО 29158. предназначена для
использования данного подхода в применениях для прямого маркирования изделий и определяет
дополнительные возможностидля излучения, включаядиффузное излучение суглом падения, прибли
зительноравным 90°.
13