ГОСТ Р ИСО/МЭК 15415—2012
В основу методологии положено измерение коэффициентов отражения символа. Эта методология так
же позволяетучитыватьособенности, встречающиеся в системах сканированиядвумерных матричных
символов.
Сначала должно быть получено первичное изображение, которое является полутоновым изобра
жением символа с высоким разрешением, полученным при заданных условиях светового излучения и
отображения. Первичноеизображение сохраняют, а затем преобразуютв базовоеполутоновое изобра
жение путем свертки первичного изображения с использованием синтезированной круговой апертуры. В
базовом полутоновом изображении измеряют параметры «Контраст символа». «Модуляция» и
«Повреждение фиксированных шаблонов» и определяют их класс. Вторичное двоичное изображение
получают из базового полутонового изображения путем использования глобального порога, затем дво
ичное изображение подвергают анализу и оценке по параметрам «Декодирование». «Осевая неодно
родность», «Неоднородность сетки» и «Неиспользованное исправление ошибок» вместе с любыми
дополнительными параметрами, установленными в спецификации на символику либо в спецификации
по применению. Методология позволяет учесть возможные экстремальные значения коэффициентов
отражения в областях, расположенных в непосредственной близости от символа, которые могутсозда
ватьпомехипри считывании, однакоприэтом вотчетео полном классе символа указываюттолько нали
чие такихобластей.
Дополнительно проводят измерения значений расширения и сужения при печати по каждой оси
символа и указываютихв отчете как контрольные измерения без присвоения класса.
Классом сканирования является наименьшеезначение класса из полученныхдля указанныхсеми
параметров илюбыхдругих, установленныхдляданной символики или конкретного применения.
7.2 Получение изображений для проведения испытаний
7.2.1 Условия измерений
Изображениесимволадля проведения испытанийдолжно бытьполучено вконфигурации, которая
воспроизводит типовую ситуацию сканирования данного символа, но со значительно более высоким
разрешением (7.3.3), равномерным освещением и наилучшей фокусировкой. Следует использовать
базовую оптическую схему, указанную в 7.3.4. если требования применения не предполагают наличия
специальныхоптическихсхем,альтернативныеоптическиесхемы (двеизкоторыхуказаны в 7.3.4) могут
быть использованы при условии, что проводимые на их основе измерения могут быть согласованы с
полученнымис помощью базовой оптической схемы.
Измерения следует проводить с использованием светового излучения с определенной длиной
волны вединственном максимумеинтенсивности излученияили снабором спектральныххарактеристик
иизвестнымдиаметром измерительнойапертуры, значениякоторыхдолжны бытьустановлены вспеци
фикации поприменениюили заданы всоответствиис требованиями 7.3.2 и7.3.3. Уровни внешнегоокру
жающего светового излученияследует контролировать с целью исключения его влияния на результаты
измерений.
По возможности измерения следует проводить для символа, имеющего окончательную конфигу
рацию. то есть конфигурацию, которая предусматривается для его сканирования. Методы измерений,
приведенные в 7.6, 7.7 и приложении В. обеспечивают исключение влияния экстремальных значений
коэффициентов отражения в областях за пределами символа (например, символ граничит со свобод
ным воздушным пространством или рядом присутствуютповерхности с высоким зеркальным отражени
ем), которые приводят к искажениям результатов измерений контраста символа.
Особые случаи использования (например, измерение качества символов, полученных методом
гравировки или травления поверхности подложки) требуют выбора особых условий: цвета светового
излученияиуглаосвещениясимвола, а также необходимого разрешенияизображения, нов целомопти
ческая схема, установленная в 7.3.4, удовлетворяет потребностям множества открытых применений.
Для применений, связанных с прямым маркированием изделий, как правило, применяют модифициро
ванную версиюметодологии, приведеннойвнастоящемстандарте. Модифицированнаяверсияметодо
логии формально установлена в ИСО/МЭК ТО 29158 и может быть использована в случае, если она не
противоречитсоответствующемустандарту по применению.
При создании оптических схем определяющими являются два принципа. Во-первых, полутоновая
шкала изображений для испытаний должна быть линейной и не содержать каких-либо искажений.
Во-вторых, разрешениекаждого изображениядолжно бытьдостаточнымдля обеспеченияприемлемого
считывания, при котором модульпо ширине и высоте обычнодолжен включатьв себя неменее 5 пиксе
лей изображения (7.3.3).
11