Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 29.12.2025 по 04.01.2026
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями

ГОСТ 8.594-2009; Страница 5

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ Р 53709-2009 Скважины нефтяные и газовые. Геофизические исследования и работы в скважинах. Общие требования Oil and gas wells. Geophysical researches and works in wells. General requirements (Настоящий стандарт устанавливает виды, объемы, стадии и порядок проведения геофизических исследований и работ в нефтяных и газовых скважинах и требования к ним. Настоящий стандарт предназначен для применения при геологическом изучении, разведке и добыче углеводородного сырья, сооружении и эксплуатации подземных хранилищ газа, а также при проведении аудита запасов углеродного сырья) ГОСТ Р 27.403-2009 Надежность в технике. Планы испытаний для контроля вероятности безотказной работы Dependability in technics. Compliance tests plans for reliability (Настоящий стандарт распространяется на изделия любых видов техники, для которых в документации задают требования к показателю безотказности - вероятности безотказной работы (ВБР). Настоящий стандарт устанавливает планы испытаний для проверки соответствия ВБР заданным требованиям) ГОСТ 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки State system for ensuring the uniformity of measurements. Atomic-force scanning probe microscopes. Method for verification (Настоящий стандарт распространяется на сканирующие зондовые атомно-силовые микроскопы, применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 (в степени минус девять) до 10 (в степени минус шесть) м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок с использованием рельефных мер по ГОСТ 8.591 и ГОСТ 8.592)
Страница 5
Страница 1 Untitled document
ГОСТ 8.5942009
М Е Ж Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы ЙС Т А Н Д А Р Т
Государственная система обеспечения единства измерений
МИКРОСКОПЫ Э
Л
ЕКТРОННЫЕ РАСТРОВЫЕ
Методика поверки
State system for ensuring the uniformity of measurements.
Scanning electron microscopes. Verification methods
Дата введения 201011—01
1 Область применения
Настоящий стандарт распространяется на растровые электронные микроскопы (далее РЭМ),
применяемыедля измеренийлинейных размероввдиапазонеот 10 sдо 10-6м. иустанавливаетметоди ку
их первичной и периодических поверок с использованием рельефных мер по ГОСТ 8.591 и ГОСТ
8.592.
2 Нормативные ссылки
В настоящем стандарте использованы нормативные ссылки на следующие межгосударственные
стандарты.
ГОСТ 8.5912009 Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельеф
ные нанометровогодиапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки
ГОСТ 8.592—2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельеф
ные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим фор
мам, линейным размерам ивыборуматериаладля изготовления
ГОСТ 12.2.06181 Система стандартов безопасности труда. Оборудование производственное.
Общиетребования безопасности к рабочим местам
ГОСТ ИСО 14644-12002 Чистые помещения и связанные с ними контролируемые среды.
Часть 1. Классификация чистоты воздуха
П р и м е ч а н и е При пользовании настоящим стандартом целесообразно проверить действие ссылоч
ных стандартов на территории государства по соответствующему указателю стандартов, составленному по состоя
нию на 1 января текущего года, и по соответствующим ежемесячно издаваемым информационным указателям,
опубликованным в текущем году. Если ссылочный документ заменен (изменен), то при пользовании настоящим
стандартом следует руководствоваться заменяющим (измененным) стандартом. Если ссылочный документ отме
нен без замены,то положение, в котором дана ссылка на него, применяется вчасти, не затрагивающей эту ссылку.
3 Термины и определения
В настоящем стандарте применены следующие термины ссоответствующими определениями.
3.1
растровый электронный микроскоп (РЭМ): Электронный микроскоп, формирующий изобра
жение объекта при сканировании его поверхности электронным зондом.
(ГОСТ 2100675. статья 3)
Издание официальное
1