Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 29.12.2025 по 04.01.2026
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями

ГОСТ Р 8.593-2009; Страница 9

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ Р 8.563-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Методики (методы) измерений State system for ensuring the uniformity of measurements. Procedures of measurements (Настоящий стандарт распространяется на методики и методы измерений, включая методики количественного химического анализа (далее - МКХА), и устанавливает общие положения и требования, относящиеся к разработке, аттестации, стандартизации, применению методик измерений и метрологическому надзору за ними. Стандарт не распространяется на методики измерений, предназначенные для выполнения прямых измерений, т.е. методики, в соответствии с которыми искомое значение величины получают непосредственно от средства измерений. Такие методики измерений вносят в эксплуатационную документацию на средства измерений. Подтверждение соответствия этих методик обязательным метрологическим требованиям осуществляется в процессе утверждения типов данных средств измерений) ГОСТ Р 53497-2009 Протезы фиброзных колец для аннулопластики. Технические требования и методы испытаний Annuloplasty rings. Technical requirements and test methods (Настоящий стандарт применим к изделиям, предназначенным для протезирования фиброзных колец сердца человека. Настоящий стандарт не распространяется на протезы колец, имплантируемые интраваскулярно) ГОСТ Р 53696-2009 Контроль неразрушающий. Методы оптические. Термины и определения Optical non-destructive testing. Terms and definitions (Настоящий стандарт устанавливает применяемые в науке, технике и производстве термины и определения основных понятий в области оптического неразрушающего контроля качества материалов, полуфабрикатов и изделий. Термины, установленные стандартом, предназначены для применения в документации всех видов, научно-технической, учебной и справочной литературе)
Страница 9
Страница 1 Untitled document
ГОСТ 8.5932009
Рисунок 2 Видеопрофиль (направление сканирования слева направо)
Наклон зонда должен быть но болое 20°. При соблюдении дополнительного условия ортогональ
ности вертикального перемещения зонда, регистрируемая кривая будет симметричной иAL =Ав.
П р и м е ч а н и е Если значения AL и ARне равны, то это указывает на неортогональность вертикального
перемещения зонда и необходимость определения значения отклонения Z-сканера поверяемого микроскопа по 9.4.
8.4 Оформление протокола поверки
Результаты измерений параметров рельефной меры, приведенных на рисунке 2. оформляют в
виде протокола. В протокол также записываютзначениеобщейдлины видеопрофиля, определенное по
8.2.5. Форма протокола — произвольная.
Протокол с результатами измерений должен храниться как минимум до следующей поверки мик
роскопа.
9 Обработка результатов измерений
9.1 Вычисление масштабного коэффициента видеоизображения микроскопа
Масштабный коэффициент видеоизображения микроскопа тл, нм/пиксель, вдоль направления
сканирования вычисляют поформуле
т.
(
2
)
гдеа — значениепроекциинаклоннойстенки выступа, приведенное впаспорте(формуляре) нарельеф
ную меру, нм;
A
r
значениепроекциинаклоннойстенкирельефноймеры, измеренное повидеопрофилю, пиксель.
П р и м е ч а н и е При вычислении масштабного коэффициента видеоизображения используют значение
проекции наклонной стенки AR, соответствующее движению сканера от вершины выступа к дну канавки. Это значе ние
при выполнении условия по 8.3.2 не зависит от угла наклона зонда микроскопа.
9.2 Вычисление эффективного радиуса острия зонда микроскопа
Эффективный радиус острия зонда микроскопа г. нм. вычисляют поформуле
г-0.966(т, Вр- Ьр),(3)
гдет , масштабный коэффициент видеоизображения микроскопа, вычисленный по9.1. нм/пиксель;
б0 ширина нижнегооснования, измеренная по видеопрофилю, пиксель:
ширина нижнего основания выступа, приведенная в паспорте (формуляре) на рельефную
меру. нм.
9.3 Вычисление цены деления вертикальной шкалы микроскопа
Цену деления вертикальной шкалы микроскопа тг,нм/пиксель. вычисляют поформуле
гдеh высота выступа, приведенная в паспорте (формуляре)на рельефную меру, нм;
Н высота выступа рельефной меры, измеренная повидеопрофилю, пиксель.
5