ГОСТ Р 50429.3—92 С. 13
ности lg -p , используятаблицу,приведенную в обязательном
приложении ГОСТ Р 50429.1.
По значениям lgC и lg-r1 для образцов сравнения строят
фI
градуировочный график в координатахlgC, Ig-p • По этому
I^
дол определяем й прим си Ск в концентратах контро ных опы
’Ф
градуировочному графику и по значению для концентра
тов
и
контрольных
о
опытов
е
определяют среднее значение
ль
массовой
тов. Соответственно по значению lg-45—для концентратов анали-
зируемой пробы находят по градуировочному графику среднее зна
чение массовой доли С определяемой примеси в концентрате ана
лизируемой пробы.
5.2.Массовую долю примеси в пробе Хаи (результат анализа)
в процентах вычисляют по формуле
* aH="wir
где т
1
— масса навески порошкового графита, используемаяв
качестве коллектора, г.
т2 — масса навески анализируемой пробы галлия, г,
С — среднее значение массовой доли примеси в концентра
тах анализируемой пробы, %,
Ск — среднее значение массовой доли примеси в концентра
тах контрольного опыта, %.
Та б л и ц а3
Опреде/яемый элементДлина
войны
аналитической линии,
нм
Алюминий
Висмут
Железо
Индий
Кадмий
Кобальт
Кремний
Магний
Марганец
Медь
Никель
Свинец
Серебро
Хром
Цинк
257,51
306,77
248,33
325,61
228,!80
304,40
251,43
277,98
279,48
327,40
300,25
283.31
328,07
302,16
328,24
43