ГОСТ Р 8.623—2006
В.4 Толщину образца в форме пластины (подложки) измеряют не менее чем а пяти точках, равномерно рас
положенных по поверхности, со стандартной неопредепенностью. оцениваемой по типу В. не более 0.003 мм. При
расчете диэлектрических параметров образца испопьзуют среднеарифметическое значение резупьтатов этих
измерений.
В.5 Для измерений методом МДР образец диэлектрика выполняют в форме цилиндра диаметром О. мм и
высотой L. мм исходя из соотношений
~ 1ах
_
1
250< П ,530(8.2)
0,40 £ L £ 1.40.
(8.3)
где%ах — верхние и нижние границы приближенно известного значения ч
f — низшая частота диапазона измерения. ГГц.
Требования к форме и расположению поверхностей образцов соответствуют приведенным в В.1.
Измерениедиаметра проводят в средней части по высоте образца в трехнаправленияхс поворотом образца
на угол ~60с. Измерение высоты образца проводят в пяти точках, равномерно расположенных по поверхности
образца. Измерения высоты идиаметра проводят со стандартной неопределенностью, оцениваемой по типу В. не
более 0,003 мм. При расчете диэлектрических параметров образца используют среднеарифметическое значение
результатов этих измерений.
8.6 При подготовке образцов для всех методов измерений обработка образцов не должна изменятьсвойств
материала.
В.7 Нормализация и кондиционирование образцов для всех методов измерений — по ГОСТ 6433.1.
20