ГОСТ Р 8.623—2006
(17)
где G — параметр, определяемый по формуле
1
(18)
G = aLо (2a-L0)
pc
.2L0t0f :
П р и м е ч а н и е — Два способа вычисления параметра ^по формуле (14) приведены для исключения опе
рации деления на 0.
8.4.3При определениидиэлектрической проницаемости и тангенса угладиэлектрических потерь
образцов проводятне менеечетырехизмеренийи за результатпринимаютсреднеарифметическоезна чение.
8.5 Требования к неопределенности измерений
8.5.1Расширенная неопределенность (предел допускаемой относительной погрешности) ре
зультата измерений
е
и tg 8твердых диэлектриков, оцененная при уровне доверия 0.95 в соответствии
с РМГ 43 (1]. для метода объемного резонатора при фиксированной резонансной длине составляет:
8.5.2Если необходима оценка повторяемости (сходимости) и воспроизводимости измерений, ее
осуществляют в соответствии с ГОСТ Р ИСО 5725-2.
9 Метод щелевого резонатора
9.1 Сущность метода
9.1.1 Для измерений применяют щелевой резонатор, в котором возбуждается колебание Н01р с
нечетным индексом р = 1или р =3 в диапазоне частот4— 20 ГГц. Резонатор образовандвумя соосными
цилиндрамиодногодиаметраD =2а идлины Lкаждый, вщельмеждукоторымипомещаютобразец. Схе
матическое изображение щелевого резонатора с колебанием типа Н0,рприведено на рисункеА.З (при
ложение А). Размеры щелевого резонатора для измерений в диапазонах частот приведены в
таблице Б.2 (приложение Б).
Длина резонансной полости пустого резонатора L0 = 2L должна быть известна со стандартной
неопределенностью, оцениваемой потипуВ. не более0.01 мм. Внутреннийдиаметр резонаторадолжен
бытьизвестенсостандартнойнеопределенностью, оцениваемойпотипу В.неболее0.005 мм. Значения
L0 и D могут быть взяты из технической документации на используемый резонатор или определены в
соответствии с приложением Б.
9.1.2 Определение относительной диэлектрической проницаемости
е
заключается в измерении
резонансной частоты резонатора fQ, 7 до и после помещения в резонатор образца.
z 0.5 % для
е
от 1.2 до 10;
♦1%для сот 10 до 60;
♦2%для
е
от
60 до 100:
♦3 % для
е
более 100:
tg 6
Для измерений данным методом в диапазоне частот 4—20 ГГц используют образцы, имеющие
формутонкихдисков, пластин идиэлектрических подложектолщиной от 0.5 до 2,5 мм с относительной
диэлектрической проницаемостью от 1,2 до 20 и тангенсом угла диэлектрических потерь от 3 •10 5до
П О "2.
Достоинством метода является возможность измерения образцов в виде пластин, листов, подло
жек и дисков малой толщины при достаточно больших коэффициентах заполнения измерительного
резонатора. Условиями применимости метода являются перекрытие образцом резонансной полости и
выполнение неравенства t йс/(57 -fi.)
8