ГОСТ F 51309-99
5.3.4 Устранение мешающих влияний
Коррекцию фона при возникновении матричных эффектов и учет взаимно
го влияния измеряемых элементов за счет спектральных наложений (эффект
интерференции) проводят при помощи программного обеспечения спектро
метра в соответствии с руководством по эксплуатации спектрометра. Спект
ральных наложений избегают выбором альтернативной длины волны излуче
ния элемента (приложение В). Исследование эффекта интерференции и расчет
необходимых поправок, учитывающих возможное влияние интерферирующих
элементов, проводят на стандартных образцах водных растворов элементов со
значениями массовых концентраций элементов не менее 100 мг/дм5. Выбор
точек коррекции фона проводят на наиболее типичных рабочих пробах воды
и (или) градуировочных растворах смеси элементов путем измерения интен
сивности фонового сигнала с одной или с двух сторон измеряемого
спектраль ного пика элемента. Следует избегать выбора точек коррекции
фона дтя определяемого элемента в области, в которой возможно появление
спектраль ных линий других интерферирующих элементов.
5.3.5 Градуировка прибора
Градуировку спектрометра проводят перед началом измерений подготовлен
ных проб. Для получения градуировочной характеристики в режимах, установ
ленных по 5.3.3 и 5.3.4, не менее двух раз измеряют на длине волны излучения
определяемого элемента интенсивность атомного излучения холостой пробы и
не менее двух градуировочных растворов, приготовленных по 5.3.2.3 или 5.3.2.4.
Определение градуировочной характеристики, обработку и хранение результа
тов градуировки спектрометра проводят с использованием программного обес
печения спектрометра.
5.3.6 Контроль стабильности градуировочной характеристики —по 4.3.5 не
менее чем через каждые 30 анализируемых проб.
5.3.7 Подготовка проб —по 4.3.6.
5.4 Порядок проведения измерений
5.4.1 Измерение массовой концентрации элементов проводят при нормаль
ных климатических условиях испытаний с учетом требований руководства
(инструкции) по эксплуатации спектрометра.
5.4.2 Устанавливают оптимальные режимы измерений по 5.3.3 и 5.3.4.
5.4.3 Ввод в спектрометр подготовленной по 4.3.6 пробы и измерение
атомного излучения элементов в анализируемой пробе проводят в соответствии с
руководством (инструкцией) по эксплуатации спектрометра. Интенсивность
излучения после прохождения света через дифракционную решетку монохро
матора или полихроматора регистрируется одним или несколькими фоточувст-
вительными устройствами, фототок которых измеряется и обрабатывается
компьютерной системой спектрометра.
5.5 Обработка результатов измерений
5.5.1 Аналитические сигналы обрабатываются при помощи программного
обеспечения спектрометра с использованием градуировочной зависимости по
5.3.5. в том числе проводятся коррекция фона, при необходимости учет взаим
ного влияния измеряемых элементов, и рассчитывается массовая концентрация
определяемого элемента.
5.5.2 За результат определения принимают среднеарифметическое резуль
татов двух параллельных измерений анализируемого элемента, удовлетворя
ющих условию Б. 1.
437
12