4
P
P
=
å
L||
L||
n
h
2N
L||
.
LL
X
— cредниезначения (
N
L
^
, N
L||
, P
^
, P
||
).
S — оценкастандартногоотклонения (
s
).
t— множитель, зависящий от числаисследованныхполейииспользуемый вместе со стандартным
отклонениемизмеренийдляопределения 95 % CI.
95 % CI — 95 %-ныйдоверительныйинтервал.
n
95 % CI
=
±
ts
.
X
% RA — относительнаяточность, %.
% RА
=
95 %
×
100.
SB
^
— среднеерасстояниемеждуцентрамиполос.
^
N
SB
=
1
.
L
^
n
V — объемнаядоляполосчатойфазы (структурнойсоставляющей).
l
^
— среднеерасстояниемеждукраямиполос, среднийсвободныйпуть (расстояние).
^
N
l =
1
−
V
n
.
L
^
АI — коэффициентанизотропии.
P
NP
AI
=
N
L
^
=
L
^
.
L||L||
W
12
— степень ориентации частичноориентированныхлинейных элементов структуры на двухмерной
плоскостиполировки.
N
N
L
^
−
N
L||
12
N
L
^
+
0,571
L||
W=
.
W
PP
PP
L
^
−
L||
12
L
^
+
0,571
L||
=
.
4 Сущность методов
4.1 Методика качественного описания характера полосчатых или ориентированных
микроструктурнаоснованииморфологическихпризнаковмикроструктуры
´´
4.1.1 Для исследования микроструктуры образцов используется металлографический микроскоп.
Полосчатостьилиориентациюлучшенаблюдатьпринизкихувеличениях, напримерот 50 до 200 .
4.1.2 Степеньмикроструктурнойполосчатости илиориентацииописываюткачественно, используя
микрошлифы, вырезанныепараллельнонаправлениюдеформацииизделия. Схемакачественнойкласси-
фикациидляполосчатыхилиориентированныхмикроструктурпоказананарисунке 2. ВприложенииА.1
приведеныпримерымикроструктур, иллюстрирующиетерминологию, используемуюдлякачественного
описанияхарактераистепениполосчатостиилиориентации.
4.2 Стереологические методы для количественного измерения степени полосчатости или
ориентациимикроструктуры
4.2.1 Эти методы используются для измерения числа полос на единицу длины, расстояния между
полосами или частицамиистепени анизотропии или ориентации (параметров N
L
^
, N
L||
, АI,
W
12
, SB
^
,
l
^
и др.).
ГОСТР 54570—2011