6
6 Подготовка образцов
6.1 Методика подготовки образцов должна обеспечивать выявление микроструктуры и исключать
чрезмерноевлияниевозникающихвпроцессеприготовлениядеформацииили сглаживаниямикронеров-
ностей.
6.2 Взависимостиотвидаобразцаили, еслиэтонеобходимодляобработкинаавтоматическихполи-
ровальныхстанках, можетприменятьсямонтировкаобразцов.
6.3 Длявыявлениимикроструктурынеобходимодостижениезначительногоконтрастапутемисполь-
зованиясоответствующегометодахимическогоилиэлектролитическоготравления, цветноготравления
илиокисленияит. д. Длянекоторыхматериаловтравлениеможетоказатьсянеобязательным, еслиесте-
ственновозникающаяразницавотражательнойспособности структурныхсоставляющихможетобеспе-
читьдостаточныйконтраст.
7 Методика
´´
7.1 Полированныйипротравленныйобразецпомещаютнастоликмикроскопа, выбираютподходя-
щеенизкоеувеличение, например, 50 или 100 , иизучаютмикроструктуру. Устанавливаютобразецтак,
чтобынаправлениедеформациинапроекционномэкранебылогоризонтальным.
7.1.1 Используютобъект-микрометрдляопределенияувеличениявплоскостипроекцииизображения
иливплоскостифотографирования. Дляопределениядлинылинийнаизмерительнойсеткенакладкив
миллиметрахиспользуютлинейку.
7.1.2 Первоначальноеполевыбираютпутемпроизвольногоперемещениястоликаиустанавливают
бездополнительнойрегулировкиегоположения.
7.1.3 Длябольшинстваизмеренийиспользуетсясветлопольноеосвещение. Однаковзависимостиот
исследуемогосплаваилиматериаламогутбытьиспользованыдругиевидыосвещения, напримерполяри-
зованныйсветилидифференциальныйинтерференционныйконтраст.
7.1.4 Измерения можно также проводить наложением измерительной сетки на микрофотографии
произвольновыбранныхполейзренияприсоответствующихувеличениях.
7.2 Качественно определяют характер и степень присутствующей полосчатости или ориентации в
соответствииспоследующимиуказаниями. Дляидентификациииклассификацииприсутствующихструк-
турныхсоставляющихможетпотребоватьсяисследованиеприболеевысокихувеличениях. Используемая
схемаклассификациипоказананарисунке 2.
7.2.1 Определяют, возниклалиполосчатостьилиориентациявследствиеизмененийвинтенсивности
травленияоднойфазыилиструктурнойсоставляющей, какэтоможетпроисходитьврезультателиквациив
образцахотпущенноймартенситнойлегированнойстали, иливследствиепреимущественнойориентации
однойилиболеефазилиструктурныхсоставляющихвдвухфазномилимногофазномобразце.
7.2.2 Приналичииориентацииилиполосчатостивдвухфазномилимногофазномобразцеопределяют,
имеет ли место только преимущественная ориентация содержащейся в меньшем количестве фазы или
структурной составляющей в матричной фазе. В других случаях могут быть ориентированы обе фазы,
причемниоднаизних неявляетсяматричнойфазой.
7.2.3 Длядвухфазных (содержащихдвеструктурныесоставляющие) илимногофазных (содержащих
многоструктурныхсоставляющих) микроструктуропределяют, имеетлиполосчатаявтораяфаза (структур-
наясоставляющая) видслоевилипредставляетсобойбеспорядочнораспределенныеориентированные
частицы, необразующиеполос.
7.2.4 Втехслучаях, когда втораяфазаилиструктурнаясоставляющаяимеетвидполосилиориенти-
рованавнеполосчатой, неориентированнойматрице, определяют, присутствуетлиполосчатаяилиориенти-
рованная структурная составляющая в виде дискретных частиц (которые могут быть глобулярными или
вытянутыми) иливвиденепрерывнойориентированнойструктурнойсоставляющей.
7.2.5 Описываютвидраспределениявторойфазы (болеесветлыхилиболеетемныхучастковтравле-
нияводнофазноймикроструктуре) наоснованиинаблюдаемойкартины, например: изотропная (неориенти-
рованнаяилинеполосчатая), почтиизотропная, частичнополосчатая, частичноориентированная, размы-
тыеполосы, узкиеполосы, широкиеполосы, смешанныеузкиеиширокиеполосы, полностьюориентиро-
ванная и т. д.
7.2.6 Примерымикроструктур, приведенныевприложенииА.1, иллюстрируютиспользованиетакой
терминологиидлякачественногоописанияхарактераистепениполосчатостиилиориентации. Рисунок 2
показываетсхемуподходак классификациимикроструктур.
ГОСТР 54570—2011