ГОСТ Р 54836—2011
вание для лазерного излучения). Класс используемых приборов (между классом 1 и классом 20, да-
ющим приблизительное равное значение неопределенности измерений) зависит от необходимой
точности измерений.
Если применяются приборы не полностью соответствующие МЭК 61040, то оцениваются доли
неопределенности измерений различных параметров, которые должны быть согласованы с требова-
нием к суммарной неопределенности измерений. Основные рассматриваемые параметры согласно
МЭК 61040:
- изменение чувствительности во времени;
- неоднородность чувствительности по поверхности приемника;
- изменение чувствительности в течение излучения;
- температурная зависимость чувствительности;
- зависимость чувствительности от угла падения:
- нелинейность;
- зависимость чувствительности от длины волны;
- зависимость чувствительности от поляризации;
- ошибки усреднения чувствительности импульсного излучения по времени;
- дрейф нуля;
- неопределенность калибровки.
Калибровка должна проводиться согласно национальным стандартам.
Испытания для определения неопределенности измерений приборов должны проводиться в
соответствии с МЭК 61040.
Неопределенности измерений CCD матриц и камер приведены в ИСО 11554.
6 Проведение классификации
Известные или измеренные параметры аппаратуры позволяют рассчитать ДПИ и условия из-
мерений. Кроме того, должны быть проанализированы условия неисправностей, которые могут уве-
личить опасность. После этого проводят измерение излучения аппаратуры (или несколько различных
измерений), если излучение находится в пределах ДПИ выбранного класса.
В таблицах 1–4 МЭК 60825-1 установлены возможные пределы излучения. Длины волн указа-
ны в строках таблицы, а длительности излучения указаны в столбцах. На пересечении строки и
столбца содержится одна или более формул, использующих параметры, которые определены в МЭК
60825-1 (раздел 9.3, примечания к таблицам 1–4).
Порядок проведения классификации показан на рисунках 1 и 2.
Первоначально определяется тип лазера: импульсный или непрерывный. Лазер относят к не-
прерывным, если продолжительность импульса больше 0,25 с. Порядок проведения классификации
для непрерывных лазеров показан на блок-схеме рисунка 1, а для импульсных лазеров – на блок-
схеме рисунка 2.
Затем должна быть определена длина волны.
Если лазер импульсный или сканирующий, то следует определить длительность импульса (ДИ)
и частоту повторения импульса (ЧПИ).
Должны быть определены интересующий класс или классы. Например, для применения лазе-
ров малой мощности вне диапазона волн от 400 до 700 нм могут быть рассмотрены классы 1, 1М или
3R. Для источников видимого диапазона могут быть рассмотрены классы 1, 1М, 2 или 2М.
После этого должна быть определена длительность развертки (временная база). Она может
быть определена в единицах стандартных значений согласно МЭК 60825-1 (раздел 8.4, перечисление
е), или из значения параметра Т
2
(МЭК 60825-1, примечания к таблицам 1–4), или при рассмотрении
специальных временных свойств аппаратуры.
Эта информация необходима для нахождения пересечения нужной строки и столбца таблиц 1–
4 МЭК 60825-1, содержащего интересующую формулу или формулы. Параметры, использованные в
формулах, определяют другие параметры, которые необходимо определить. Они включают, прежде
всего, видимый размер источника (или эквивалент стягиваемого угла α) и измеренный угол приема γ
р
очевидной фотохимической опасности. В настоящем стандарте в основном рассматриваются только
простые протяженные источники. Рассмотрение источника как малого и установка условия С
6
=1 яв-
ляются приблизительной оценкой (оценкой с завышением уровня погрешностей) в случае, если ви-
димый размер источника не известен.
Затем должны быть определены условия измерений (раздел 9.3 и таблица 10 МЭК 60825-1) и
ДПИ (таблицы 1–4 МЭК 60825-1). Для импульсных лазеров должны быть оценены несколько условий,
установленных согласно МЭК 60825-1 (раздел 8.4, перечисление f), чтобы гарантировать, что все они
находятся в пределах ДПИ.
4