ГОСТ Р 54836—2011
13
Рисунок 6b – Угол стягивания основного лазерного пучка в одном положении в пучке
П р и м е ч а н и е - Такая ситуация является более сложной, чем для простого источника, изображенного на
рисунке 6а, и угол стягивания и положение видимого источника, как правило, изменяются с положением в пучке.
Рисунок 6 – Примеры угла стягивания
Подобная мощность или энергия, рассеянная по большему, чем ретинальное пятно простран-
ству, в большинстве случаев уменьшает ретинальную опасность, как выражено в С
6
. Поэтому это мо-
жет быть важным параметром для средних (1,5 < α < 100 мрад) и больших (α > 100 мрад) отдельных
источников и матричных источников. Однако довольно часто не нужно определять угол стягивания и
коэффициент С
6
принимают равным единице. Это обеспечивает наиболее консервативную оценку.
Оценка лазерной опасности или классификация всегда должна начинаться с предположения, что
значение коэффициента С
6
= 1. Если этого достаточно, т.е. значение ДПИ предполагаемого (приме-
няемого) класса лазера не превышено, то нет необходимости выполнять дальнейший анализ.
Большинство одиночных лазеров без модификации оптики пучка относятся к малым источни-
кам С
6
= 1 и положение видимого источника не влияет на лазерную безопасность. Для этих изделий
нет необходимости в рассмотрении нижеуказанных положений настоящего подраздела 7.5.
Для наиболее распространенного лазерного пучка определение угла стягивания α и использо-
вание коэффициента С
6
> 1 не рассматриваются в настоящем стандарте. Эти вопросы будут рас-
смотрены в следующей поправке.
Для пространственных излучателей, таких как диффузно пропускающих и отражающих лазер-
ные пучки или барьерных СИД (без модификации оптики), может быть использован упрощенный ана-
лиз согласно 7.5.2.2.
Особый случай матричных источников с допущением, что каждый отдельный источник относит-
ся к малым (α ≤ 1,5 мрад), анализ проводят по 7.5.3. Простые источники с некруговым излучением
иллюстрируются в 7.5.3.4. Некоторые соображения, которые применяют специально для оценки ска-
нирующих лазеров, описаны в 7.8.
7.5.1 Расположение перетяжки пучка
Для малых источников и для всех источников при принятии С
6
=1 допустимый уровень излуче-
ния может быть измерен на предварительно установленном расстоянии от контрольной (базовой)
точки. Контрольные точки указаны в таблице 1, приведенной ниже. В случаях диффузных или полу-
проводниковых источников или излучателей большой площади без модификации оптики контрольные
точки для определения допустимых уровней излучения таблицы 1 действительны также для изме-
рений средних и больших источников при использовании С
6
> 1.
Контрольные точки
Т а б л и ц а 1 – Контрольные точки
Тип изделия
Полупроводниковыеизлучатели(лазерные
диоды, суперлюминесцентные диоды)
Сканирующее излучение (включая линейно
сканирующие лазеры)
Линейный лазер
Волоконно-оптический лазер
Диффузные источники
Другие
Физическое положение излучающего кристалла
(микросхемы)
Вершина сканирования (точка поворота сканиру-
ющего пучка)
Фокальная точка линии (вершина веерного угла )
Конец волокна
Поверхность диффузора
Перетяжка пучка