ГОСТ Р 5677^-2015
Х1.2.17 пространственная однородность (излучения) — то же. что и равномерность бокового освещения,
которая используется в данном стандарте;
X 1.2.18 спектральная плотность потока солнечного излучения — это выдерживание материала или
устройства под воздействием света, идущего от источника по конкретной ширине диапазона излучения, т.е. с
длиной волны от 400 нм до 730 нм;
X 1.2.19 спектральная световая эффективность для дневного света — это относительная реакция глаза
человека в его состоянии, адаптированном к свету (дневному свету), на излучение с конкретной длиной волны (от
410 до 720 нм);
Х1.2.20 спектрорадиомвтр — это прибор для измерения излучения в единицах Вт/м* или в аналогичных
единицах удельной поверхностной плотности;
Х1.2.21 спектральная пропускающая способность — это оптическая пропускающая способность, которая
не учитывает свет с диффузной компонентой;
X 1.2.22 трапецеидальная диаграмма напряжений — это геометрическая форма, которая формируется
путем нанесения диаграммы на график зависимости напряжения от времени, которую применяют по отношению к
остеклению с ЭХ материалом с отклонением в сторону в В/с до неизменного постоянного напряжения, а затем с
негативным уклоном в В/с с возвратом к нулевому напряжению (см. рисунок 4);
X 1.2.23 система обеспечения единства измерений — здесь; для замеров равномерности бокового
освещения в испытательной плоскости;
Х1.2.24 коэффициент ультрафиолетового ускорения — это коэффициент соотношения объема УФ-
излучения, принятого материалом от источника ультрафиолетового излучения в сопоставлении с той формой
наземного воздействия солнечному излучению в том же диапазоне спектра (как правило, от 300 до 400 нм);
Х1.2.25 Конструктивный стеллаж в осях Х-У —-устройство, которое позволяет двигать объект в двух
перпендикулярных направлениях в пределах плоскости испытаний;
Х1.3 Применимость данной методики испытаний в последующих этапах оценивают по мере полного
завершения анализов результатов испытаний.
Х1.4 Общее количество поставленных образцов должно быть на три позиции больше, чем число,
указанное в пп. 6.2. кроме того, образцы должны выступать в качестве контрольных образцов или
предусматривать вероятность того, что два из них придут в негодность.
Х1.5 Данная методика испытаний предназначена для моделирования фактических условий эксплуатации
электрохромных покрытий в любом стеклопакете.
Х1.6 Испытания проводят параллельно либо по отдельности.
Х1.7Характеристикаальтернативнойавтоматизированнойпроцедурыдляпрослеживаемости
пространственной однородности излучения в испытательной плоскости.
Х1.7.1 В целях картирования спектральной и пространственной однородности интенсивности освещения,
которую испытали на себе образцы, подверженные условиям испытательной камеры для выдержки образцов,
типа Atlas XR-260. была сооружена конструкция по осям Х-У. используемая как стеллаж, который можно собрать и
использовать внутри камеры для испытаний. На рис Х1.1 указано размещение аппаратуры. Предусмотрено
наличие четырех ксеноновых ламп мощностью 6500 Вт с внутренней системой согласно требованиям CIRA. а
также с внешним фильтром с натронной известью, которая предназначена для обеспечения максимального
соответствия по спектру с массой воздуха в наземных условиях (AM) и равна 1.5 универсального солнечного
спектра (см. таблицы в Е892). Образцы подвергают воздействию на горизонтальной поверхности пластины,
которая имеет возможность вертикальной регулировки позиции, с приблизительными габаритами 1.2 м * 1.8 м (4
фута на 6 футов). Номинальное расстояние по вертикали от источников света до поверхности воздействия
образцов составляет 770 мм (30.5 дюйма). Все 4 лампы регулируют до 0.12 Вт/м* при длине волны 340 нм.
Стеллаж с осями Х-У позволяет разместить приемник светового излучения в ряде запрограммированных мест
(например, на обычной сетке) на поверхности пластины для воздействия без необходимости выключения
освещения, открытия дверец, а также ручного перемещения приемника.
Х1.7.2 Применялись два типа приемников. Первый тип приемника — волоконно-оптический датчик,
который соединяют с миниатюрным детектором — мини-шаровым фотометром со спектрорадиометром типа
Oriel Merlin, тем самым организуют возможность выполнения спектральной характеризации в диапазонах волн от
250 до 1100 нм. Второй тип приемника (более быстрый^более удобный) — блок типа Atlas Xenosensive. который
имеет встроенный функционал с характеристикой спектральной чувствительности только в диапазоне от 300 до
400 нм. Сравнение спектра согласно стандарту ASTM [1] и спектральной плотности потока излучения,
измеренного в плоскости образца в центральной точке камеры, представлено на рисунке Х1.2. Весьма отличное
согласование отмечено в УФ-части спектра (в промежутке длин волн от 300 до 400 нм), что главным образом
является частью солнечного спектра, который может вызвать ухудшение свойств материалов.
Х1.7.3 Смена энергии света на ксеноновые лампы позволит сместить интенсивность светсизлучения
измеряемого спектра вверх или вниз с сохранением формы в неизменном виде. (В части конкретных систем
фильтров на спектральную форму главным образом влияет оставшийся ресурс ламп, по этой причине обычной
практикой является регулировка светового излучения при длине волны 340 нм. т.е. приблизительно посередине
диапазона УФ-волн). Например, измеренная плотность потока излучения при длине волны 340 нм (рисунок Х1.2)
составляет 0.542 ВтЛг’/нм, а согласно стандарту ASTM [1] данное значение является 0.420 Вт/м*/нм.
Соотношение указанных значений в итоге дает коэффициент ускорения при УФ-излучении -1.3.
14