ГОСТ Р 56748.1—2015
Таблица 1— Сведения о приборах, применяемых для измерения характеристик наноаэрозоля
Наименование характе
ристики мамоаэроэоля
Наименование прибора
Примечание
Счетная концентрация
наночастиц
Счетчик конденсированных
частиц (СКЧ)
С помощью СКЧ измеряют счетную концентрацию на
ночастиц и их диаметр в режиме реального времени.
Принцип работы СКЧ: пар конденсируют на наноча
стицах. превращая их в капельки, и далее осущест
вляют подсчет образовавшихся капелек. С помощью
СКЧ можно обнаружить частицы диаметром от 10до
1000 нм
Дифференциальный измери
тель размеров частиц (ДИРЧ)
С помощью ДИРЧ измеряют счетную концентрацию
отобранных по заданным размерам (диаметру под
вижности) частиц в режиме реального времени, по
лучая значения распределения частиц по размерам
на основе анализа их подвижности
Растровый электронный
микроскоп (РЭМ), просвечи
вающий электронный микро
скоп (ПЭМ)
С помощью РЭМ и ПЭМ получают информацию о
счетной концентрации частиц и их распределении по
размерам в режиме реального времени
Массовая концентра
ция наночастиц
Пробоотборник частиц за
данных размеров
Массовую концентрацию наночастиц (диаметром
менее 100 нм) определяют гравиметрическими или
химическими методами, предварительно выполнив
отбор наночастиц заданных размеров с помощью
пробоотборника.
Отбор проб наночастиц диаметром менее 100 нм
можно выполнить с помощью каскадного импактора
низкого давления
Вибрационные микровесы
с коническим элементом
(ВМВКЭ)
Массовую концентрацию наночастиц измеряют в ре
жиме реального времени с помощью ВМВКЭ. имею
щих специальную насадку для отбора наночасгиц
заданных размеров
Площадь поверхности
наночастиц
Диффузионный нагнетатель
С помощью диффузионного нагнетателя измеряют
активную площадь поверхности наночастиц в режи
ме реального времени. Для частицдиаметром более
100 нм площадь их активной поверхности нельзя
напрямую соотносить с геометрической площадью
поверхности. Следует отметить, что не все серий
но выпускаемые диффузионные нагнетатели имеют
на выходе сигнал, проградуированный в единицах
активной площади поверхности частиц диаметром
менее 100 нм. Для измерения активной площади
поверхности наночастиц с помощью диффузионно
го нагнетателя предварительно с помощью соответ
ствующих приборов отбирают наночастицы задан
ных размеров
Электрический импактор
низкого давления (ЭИНД)
С помощью ЭИНД измеряют активную площадь по
верхности отобранных по заданным размерам (аэ
родинамическому диаметру) наночастиц в режиме
реального времени. Для частиц диаметром более
100 нм площадь их активной поверхности нельзя
напрямую соотносить с геометрической площадью
поверхности
РЭМ.ПЭМ
С помощью РЭМ и ПЭМ получают информацию о
площади поверхности наночастиц на основе анализа
их размеров
16