ГОСТ Р 56473—2015
-в случае двухслойного основания толщина его неферромагнитного слоя составляет не менее 10 мм {при
меньшей толщине необходима настройка нуля);
- радиус кривизны поверхности покрытия составляет не менее 150 мкм;
- параметр
R.
шероховатости поверхностей покрытия и основания, расстояние от края преобразователя
до края изделия соответствуют указанным в Б.1.3.
Б.3.4 Остальные характеристики соответствуют указанным в Б. 1.4—Б.1.7.
Б.4 Приборы МТДП-1 (зарегистрированы в Госреестре РФ под № 50930-12)
Б.4.1 Предназначены для измерения толщины двухслойных покрытий (неферромагнитных покрытий на ни
келевых. никелевых покрытий под неферромагнитными) на неферромагнитных и двухслойных (неферромагнетик-
ферромагнетик) основаниях.
Б.4.2 Каждый прибор МТДП-1 имеет два съемных преобразователя, один из которых предназначен для
измерения толщины неферромагнитных покрытий на никелевых, другой — никелевых покрытий под неферро
магнитными.
Б.4.3 Диапазон измерений:
- толщины неферромагнитных покрытий составляет от 0 до 150 мкм (на никелевых толщиной от 200 до
700 мкм);
-толщины никелевых покрытий составляет от 0 до 700 мкм (поднеферромагнитными толщиной не более
150 мм).
Б.4.4 Основная допускаемая погрешность:
-при измерении толщины неферромагнитных покрытий на никелевых толщиной от 200 до 700 мкм не вы
ходит за пределы ±(5 +0.05А)) мкм. где
h
— измеряемая толщина в мкм;
- при измерении толщины никелевых покрытий под неферромагнитными толщиной не более 150 мкм не
выходит за пределы ±(1,5 + 0,1
h
) мкм. где
h
— измеряемая толщина в мкм
(присоблюдении условий, указанных в Б.3.3).
Б.4.5 Остальные характеристики соответствуют указанным в Б. 1.4—Б. 1.7.
16