Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 29.12.2025 по 04.01.2026
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями

ГОСТ Р 56473-2015; Страница 14

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ Р 56497-2015 Глобальная навигационная спутниковая система. Комплекс оборудования для формирования и передачи дифференциальных поправок сигналов ГНСС по УКВ каналу АИС. Общие требования, методы испытаний и требуемые результаты испытаний (Настоящий стандарт распространяется на комплекс оборудования для формирования и передачи дифференциальных поправок сигналов ГНСС по УКВ каналу АИС, который включает:. - контрольно-корректирующую станцию (далее - ККС) дифференциальной подсистемы ГНСС;. - базовую (береговую) станцию АИС (БС АИС) (далее - «ККС - БС АИС») в режиме передачи дифференциальных поправок ГНСС по УКВ каналу АИС [1]. Настоящий стандарт устанавливает общие требования, методы и требуемые результаты испытаний к комплексу оборудования «ККС - БС АИС» в части формирования и передачи дифференциальных поправок ГНСС ГЛОНАСС/GPS по УКВ каналу АИС в рабочей зоне базовой станции АИС [2]) ГОСТ Р 56472-2015 Системы космические. Комплексы стартовые и технические ракетно-космических комплексов. Документ контроля интерфейсов. Требования к содержанию и оформлению (Настоящий стандарт распространяется на документы контроля интерфейсов, которые описывают массивы интерфейсов между ракетой космического назначения, технологическим оборудованием и сооружениями (строительными конструкциями и техническими системами) стартовых и технических комплексов ракетно-космического комплекса. Настоящий стандарт устанавливает общие требования к содержанию и оформлению документов контроля интерфейсов, к порядку их разработки, согласования, утверждения, контроля выполнения, внесения изменений. Положения настоящего стандарта подлежат применению организациями, участвующими в создании и эксплуатации стартовых и технических комплексов ракетно-космических комплексов) ГОСТ Р 56475-2015 Системы космические. Контроль неразрушающий толщины толстослойных гальванических никелевых покрытий деталей и сборочных единиц жидкостных ракетных двигателей. Общие требования (Настоящий стандарт устанавливает общие требования и основные правила контроля толщины защитных никелевых покрытий камер сгорания, элементов турбонасосных агрегатов и других составных частей в технологическом цикле производства)
Страница 14
Страница 1 Untitled document
ГОСТ Р 564732015
Допускается использование других сертифицированных магнитодинамических приборов, ос
новные технические характеристики которых но хуже указанных в приложении Б.
9.2 Общие требования к метрологическому обеспечению магнитодинамических приборов
9.2.1 Градуировка магнитодинамических приборов следует выполнять в условиях по ГОСТ 8.395.
9.2.2 Градуировка магнитодинамических приборов, предназначенных для контроля толщины
никелевых покрытий, следует выполнять на мерах толщины покрытий МТОНП или МТ-НП, зареги
стрированных в Госреестре РФ под 44899-10, либо других мерах с аналогичными характеристика ми.
9.2.3 Градуировка магнитодинамических приборов, предназначенных для контроля толщины
двухслойных (хром на никеле) покрытий, следует выполнять на мерах толщины покрытий МТДХПН,
зарегистрированных в Госреестре РФ под No 44899-10. либо других мерах с аналогичными характе
ристиками.
Допускается выполнение градуировки на мерах МТОНП с наложением на них мер. имитирую
щих хромовые покрытия в заданном диапазоне их толщины (например, меры толщины покрытий ИТП,
зарегистрированные в Госреестре РФ под No 34825-07).
9.2.4 Градуировку магнитодинамических приборов, предназначенных для контроля толщины
неферромагнитных покрытий на ферромагнитных основаниях, следует выполнять на мерах, изготов
ленных в виде покрытий из износостойкого неферромагнитного материала, нанесенных на
основания, по своим магнитным свойствам идентичные изделиям с контролируемыми покрытиями
(способ изго товления мер изложен в патенте РФ No2392581).
Допускается выполнение градуировки на мерах ИТП. накладываемых поочередно на плоское
основание, по своим магнитным свойствам идентичное вышеуказанным изделиям, либо других мерах
с аналогичными характеристиками.
9.2.5 Поверку магнитодинамических приборов, предназначенных для контроля толщины нике
левых (неферромагнитных) покрытий, следует проводить в соответствии с ГОСТ 8.502 на мерах, ука
занных в 9.2.2 (9.2.4).
9.2.6 Поверка магнитодинамических приборов, предназначенных для контроля толщины двух
слойных (хром на никеле) покрытий, должна проводиться в соответствии с документом, содержащим
условия и методику проведения поверки, утвержденным в установленном порядке и поставляемым
вместе с прибором. При проведении поверки следует использовать меры, указанные в 9.2.3.
9.2.7 Интервал между поверками магнитодинамичоских приборов не должен быть более двух
лет.
9.2.8 Наборы мер. используемые при проведении градуировки (поверки) магнитодинамических
приборов, должны иметь действующие свидетельства о поверке. При поверке рекомендуется исполь
зовать правила, утвержденные ВНИИМС[1], при этом интервал между поверками не должен быть
более двух лет.
10 Подготовка и проведение контроля толщины покрытий
10.1 Все операции по подготовке и проведению контроля должны выполнять лица, обладающие
необходимыми навыками работы с магнитными толщиномерами, а также изучившими соответствую
щие нормативные и технические документы.
10.2 Перед проведением контроля должны быть соблюдены требования, изложенные в эксплу
атационной документации, поставляемой вместе с магнитодинамическим прибором.
10.3 Контроль следует проводить в условиях, соответствующих ГОСТ 8.050, с соблюдением
требований, изложенных в той же документации.
10.4 Контроль следует проводить только в заданных контрольных точках изделия с соблюдением:
- последовательности, регламентированной соответствующей технической документацией на
контролируемое изделие:
требований, изложенных в эксплуатационной документации, поставляемой вместе с магнито
динамическим прибором.
10.5 При проведении контроля следует избегать установки преобразователя прибора на края
контролируемой поверхности.
10.6 В каждой контрольной точке изделия необходимо выполнить не менее трех последова
тельных измерений.
10.7 По показаниям а*прибора, полученным при проведении измерений в каждой контрольной
точке изделия, вычисляют среднее арифметическое значение а, по формуле
П
а," 2
/-»
в»<9>
11