Г0СТ1ЕС 60065—2013
Т а б л и ц а 2 — Испытательный источник питания
Номинальное напряжение питания
постоянного тока. В
Номинальное напряжение без нагрузки
постоянного тока. В
Внутреннее сопротивление.
Ом
1.5
3.0
4.5
6.0
7.5
9.0
12.0
2.25
4.50
6.75
9.00
11.25
13.50
18.00
0.75
1.50
2.25
3.00
3.75
4.50
6.00
П р и м е ч а н и е — В таблице приведен стандартизованный набор параметров питания, позволяющий
иметь представление о значениях этих параметров для источников питания общего назначения с выходным
напряжением от 1.5 до 12 В и с номинальным выходным током более 1 А.
Параметры для источников питания с напряжением более 12 В и током более 1 А находятся на
рассмотрении.
4.2.12Аппарат, поставляемый изготовителем с дополнительными съемными ножками или под
ставками, испытывают с прикрепленными ножками или подставками или же без них.
4.3 Условия неисправности
Испытания аппаратуры в условиях неисправности означают, что. кроме нормальных условий
работы, перечисленных в 4.2. должна быть проведена поочередная (не болев одной за раз) имитация
каждой изуказанныхниже неисправностей, атакже других неисправностей, вытекающихизпредыдущих.
П р и м е ч а н и е 1— Логическое следствие условий неисправности — те условия, которые возникают при
появлении неисправности.
Цепи или части цепи, питаемые от напряжения открытой цепи, не превышающего 35 В (пиковое
значение) переменного тока или постоянного тока, и не вырабатывающие напряжения выше этого
значения, не считают представляющими опасность воспламенения, если ток. который может проте
кать от питающей цепи в течение более 2 мин при любой нагрузке, включая короткое замыкание, но
достигает более 0.2 А. Цепи с такими параметрами питания не подлежат испытаниям в условиях
неисправности.
Пример испытательной цепи для измерения напряжения и тока приведен на рисунке 1.
П р и м е ч а н и я
2 Обследование аппарата и всех его электрических схем, за исключением внутренней структуры интеграль
ных микросхем, как правило, обнаруживает условия неисправностей, которые могут порождать опасность и кото
рые необходимо имитировать. Эти условия должны быть сымитированы последовательно в наиболее удобном
порядке.
Обследование аппарата и электрических схем показывает условия работы, при которых применение сы
митированных неисправностей произведет наиболее неблагоприятный эффект. В большинстве случаев наибо
лее неблагоприятный эффект производят неисправности сымитированные при работе аппаратуры с полной
нагрузкой.
Однако для некоторых частей наиболее неблагоприятный эффект гложет быть достигнут при имитировании
неисправности до включения аппарата. Также возможно, что наиболее неблагоприятный эффект может быть
достигнут при имитировании неисправности в то время, когда аппарат находится в условиях дежурною режима.
3 При проведении обследования в соответствии с примечанием 2 необходимо принимать во внимание
рабочие характеристики интегральных микросхем.
4 Если имеется вероятность влияния на результаты испытаний, то испытания в условиях неисправностей
следует проводить в деревянном коробе для испытаний, указанном в 4.1.4.
При испытаниях сымитированная неисправность может вызвать последующую неисправность,
такую как обрыв или короткое замыкание компонента. Для подтверждения постоянства полученных
результатов имитациянвиспра&юсти может быть повторена один или двараза сзаменойкомпонен
тов. Если это не подтвердится, тонеобходимо имитировать самый неблагоприятныйрежим неисп
равности.
4.3.1Корольков замыкание череззазоры и пути утечки при значениях этихвеличин, менееопреде-
ляомых в разделе 13 для основной и дополнительной изоляции, за исключением изоляции между непос
редственно соединенными с сетью частямиразличной полярности.
16