ГОСТ 32699—2014
4.2.9 Подготовка средств НК к проведению контроля осуществляется в соответствии с руковод
ством поэксплуатации.
4.2.10 Результаты НК заносятся в регистрационный журнал, форма которого регламентируется
технологической инструкцией предприятия-изготовителя.
5 Магнитопорошковый метод контроля
5.1 Назначение магнитопорошкового контроля
МПК боковых рам и иадрессорных балок проводят по ГОСТ 21105 с целью выявления дефектов
различного направления.
5.2 Требования к средствам магнитопорошкового контроля
5.2.1 К средствам МПК относятся:
- дефектоскопы и/или намагничивающие устройства:
- магнитные индикаторы:
- настроечные образцы с поверхностными дефектами, вспомогательные приборы и
устройства для проверки выявляющей способности магнитных индикаторов.
5.2.2 Дефектоскопы и/или намагничивающие устройства для МПК должны обеспечивать на по
верхности боковых рам и иадрессорных балок в зонах контроля значение тангенциальной составля
ющей вектора напряженности магнитного поля не менее 2000 А/м.
5.2.3 Для МПК боковых рам и иадрессорных балок применяют следующие вспомогательные
приборы и устройства:
- устройства для нанесения магнитных индикаторов на контролируемую поверхность дета
лей;
- устройства для осмотра контролируемой поверхности деталей;
- приборы и устройства для проверки режима намагничивания и намагниченности деталей
(магнитометры, миллитесламетры);
- приборы и устройства для проверки выявляющей способности магнитных индикаторов.
5.2.4 При осмотре зон контроля применяются переносные светильники видимого или синего
света, УФ-облучатели по ГОСТ 28369.
5.2.5 Интенсивность УФ-излучения на расстоянии 400 мм от источника должна быть не менее
10 Вт/м 2, а освещенность не более 20 люкс.
5.2.6 При проверке выявляющей способности магнитных индикаторов применяют настроечные
образцы с поверхностными искусственными дефектами с шириной раскрытия, соответствующей
условному уровню чувствительности Б по ГОСТ 21105.
5.3 Подготовка к проведению магнитопорошкового контроля
До проведения МПК с контролируемой поверхности деталей должны быть удалены загрязне
ния, мешающие проведению контроля. Параметр шероховатости контролируемой поверхности дол
жен быть не более Rz80 по ГОСТ 2789.
5.4 Проведение контроля
5.4.1 МПК боковых рам и иадрессорных балок проводят способом приложенного поля.
5.4.2 Намагничивание деталей проводят с применением намагничивающего устройства.
5.4.3 При использовании люминесцентных магнитных индикаторов осмотр поверхности дета
лей проводят с применением специализированных светильников синего света на светодиодах с мак
симумом интенсивности на длине волны 455 нм или источников ультрафиолетового излучения
(УФ-облучателей) в спектральном диапазоне от 315 до 400 нм с максимумом интенсивности на длине
волны 365 нм.
5.5 Оценка результатов контроля
Результаты МПК оценивают по наличию на контролируемой поверхности индикаторного рисун
ка. При этом протяженность дефекта принимают равной длине индикаторного рисунка. Группа из не-
3