21
Примечания
2 Обследование аппарата и всех его электрических схем, за исключением внутренней структуры интегральных микросхем, обычно обнаруживает условия неисправностей, которые могут порождать опасность и которые необходимо имитировать. Эти условия имитируются последовательно в наиболее удобном порядке.
3 При проведении обследования в соответствии с примечанием 2 необходимо принимать во внимание рабочие характеристики интегральных микросхем.
4 Если имеется вероятность влияния на результаты испытаний, то испытания в условиях неисправностей следует проводить в деревянном коробе, упомянутом в 4.1.4.
При проведении испытаний введенная неисправность может вызвать последующую неисправность, такую как обрыв или короткое замыкание компонента. Для подтверждения постоянства полученных результатов имитация неисправности может быть повторена один или два раза с заменой компонентов. Если это не подтвердится, то необходимо имитировать самый неблагоприятный режим неисправности.
4.3.1 Короткое замыкание через ЗАЗОРЫ и ПУТИ УТЕЧКИ при значениях этих величин менее определяемых в разделе 13 для ОСНОВНОЙ и ДОПОЛНИТЕЛЬНОЙ ИЗОЛЯЦИИ.
4.3.2 Короткое замыкание через части из изоляционного материала; короткое замыкание, которое может привести к нарушению требований по защите от поражения электрическим током или перегреву, за исключением изолирующих деталей, которые удовлетворяют требованиям 10.3.
Примечание - Этот подпункт не подразумевает короткого замыкания через изоляцию между витками обмотки.
4.3.3 Короткое замыкание или, если это возможно, обрыв:
- нитей накала в электронных лампах;
- изоляции между нитями накала и катодом электронных ламп;
- промежутков между электродами в электронных лампах, исключая кинескопы;
- полупроводниковых приборов, один вывод которых обрывается или любые два вывода соединяются между собой поочередно [см. также 4.3.4, перечисление г)].
Примечание - Если электронные лампы имеют конструкцию, в которой короткое замыкание между определенными электродами маловероятно или даже невозможно, такие электроды не должны быть замкнуты накоротко.
4.3.4 Короткое замыкание или обрыв (выбирают наиболее неблагоприятный случай) резисторов, конденсаторов, обмоток (например, трансформаторов, катушек размагничивания), громкоговорителей, оптопар, варисторов или пассивных нелинейных компонентов, который может привести к нарушению требований по защите от поражения электрическим током или перегреву.
Указанные в настоящем подпункте неисправности не распространяются на:
а) резисторы, соответствующие требованиям 14.1 и, насколько это применимо, 11.2;
б) ТЕРМОРЕЗИСТОРЫ С ПОЛОЖИТЕЛЬНЫМ ТЕМПЕРАТУРНЫМ КОЭФФИЦИЕНТОМ, удовлетворяющие требованиям МЭК 60738;
в) конденсаторы и резистивно-емкостные блоки (RC-блоки), удовлетворяющие требованиям 14.2 при условии, что напряжение на их выводах не превышает номинального значения, установленного для этих компонентов, а также при условии, что применение данных компонентов соответствует требованиям 8.5 или 8.6;
г) изоляцию между выводами входа и выхода оптопар, соответствующую требованиям 14.11;
д) обмотки и изоляцию трансформаторов, а также другие обмотки, упомянутые в 14.3 и соответствующие требованиям указанного пункта.
4.3.5 Для аппарата, содержащего УСИЛИТЕЛЬ ЗВУКОВОЙ ЧАСТОТЫ, с помощью