ГОСТ Р МЭК 60793-1-42—2013
Общая информация для всех методов содержится в разделах 1-8. а информация, касающаяся
каждого метода в отдельности. - в приложениях А, В. С и D соответственно.
2 Нормативные ссылки
В настоящем стандарте использованы нормативные ссылки на следующие стандарты:
МЭК 60793-2
п
Волокна оптические. Часть 2. Технические условия на изделие. Общие положения
(IEC 60793-2. Optical fibres - Part 2: Product specifications - General)
МЭК 60793-1-1:2002
2|
Волокна оптические. Часть 1-1. Методы измерений и порядок проведения
испытаний. Общие положения и руководство (IEC 60793-1-1:2002. Optical fibres - Part 1-1: Measurement
methods and test procedures - General and guidance)
МЭК 60793-1-41
n
Волокна оптические. Часть 1-41. Методы измерений и порядок проведения ис
пытаний. Ширина полосы пропускания (IEC 60793-1-41. Optical fibres - Part 1-41: Measurement methods
and test procedures - Bandwidth)
3 Обзор методов
3.1 Метод А. Фазовый сдвиг
Данный метод описывает методику для определения хроматической дисперсии всех категорий
одномодовых волокон класса В. градиентных многомодовых волокон категории А1 и волокон типов A4f,
A4g и A4h в указанном диапазоне длин волн с использованием относительных фазовых сдвигов между
синусоидально модулированными сигналами оптических источников на разных длинах волн. Как прави
ло. источниками служат лазерные диоды, диоды, излучающие отфильтрованный свет, или источники
самопроизвольного усиленного отфильтрованного излучения (ASE). Относительные значения фазового
сдвига преобразуют в относительные значения временной задержки, и затем по результирующим зна
чениям спектральной групповой задержки подбирают уравнение для каждого типа волокна.
3.2 Метод В. Спектральная групповая задержка во временной области
Данный метод описывает методику для определения хроматической дисперсии всех категорий
одномодовых волокон класса В. градиентных многомодовых волокон категории А1 и волокон типов A4f,
A4g и A4h с использованием в качестве источника света Nd:YAG/Bono«OHHoro рамановского лазера или
многолучевых лазерных диодов, работающих при значениях длин волн как больших, так и меньших ти
пового значения длины волны при нулевой дисперсии.
При использовании данного метода измеряют разность времен задержки оптического импульса на
протяжении отрезка волокна известной длины для нескольких значений длин волн. Также проводят
стандартную серию испытаний на протяжении короткого отрезка эталонного волокна, и полученные
значения вычитают из значений, полученных для испытуемого волокна, с целью получить относитель
ные значения спектральной групповой задержки.
По результирующим значениям спектральной групповой задержки подбирают уравнение для каж
дого типа волокна.
Следует применять последнее издание указанного стандарта, включая все последующие изменения.
Заменен на МЭК 60793-1-1:2008. Для однозначного соблюдения требований настоящего стандарта, выра
женных в датированных ссылках, рекомендуется использовать только данный ссылочный стандарт.
2