ГОСТ Р МЭК 60793-1-42—2013
Приложение D
(обязательное)
Требования, относящиеся к методу D. Интерферометрия
0.1 Оборудование
Схематичные чертежи двух примеров испытательных систем для измерения хроматической дисперсии с ис
пользованием интерферометрического метода, эталонного волокна и воздушной эталонной траектории представ
лены на рисунках D.1 и D.2 соответственно.
D.1.1 Источник света
Интенсивность и длина волны источника света должны быть стабильными во время измерения в диапазоне
используемых длин волн. Используют соответствующий источник света, например YAG лазер с рамановским во
локном. лампу или светодиод ит.д. При использовании методики синхронного усиления сигнала достаточно источ
ника света с низкочастотной модуляцией (50 - 500 Гц). Для модуляции света полезно задействовать модулятор
света.
D.1.2 Волновой селектор
С помощью волнового селектора выбирают значение длины волны, для которого измеряют групповую за
держку. Допускается использовать, например, монохроматор, оптический интерференционный фильтр или другой
волновой селектор в зависимости от типа оптических источников и измерительных систем. Волновой селектор раз
мещают либо на входном, либо на выходном конце испытуемого волокна. Ширина спектра на выходе волнового
селектора должна быть ограничена точностью измерения дисперсии и составлять приблизительно 2 -1 0 нм.
D.1.3 Детектор сигнала
Оптический детектор должен быть чувствительным в диапазоне измеряемых длин волн. При необходимости
полученный сигнал может быть усилен с помощью, например, трансимпедансной цепи. Для регистрации интерфе
ренционной картины может быть использован синхронный усилитель.
D.1.4 Оптическая эталонная траектория
Оптическая эталонная траектория состоит из устройства линейного позиционирования и эталонного оптиче
ского волокна или оптической линии задержки.
П р и м е ч а н и е — При использовании воздушной траектории в качестве оптической линии задержки хро
матическая дисперсия отсутствует. Следовательно, хроматическая дисперсия испытуемого волокна может быть
легко измерена. Если оптическое волокно выбрано в качестве эталона волокно калибруют с помощью данного ме
тода испытания, при котором используется воздушная эталонная траектория. Существует возможность применить
другой метод испытания, например А. В или С, описанный в настоящем стандарте, для калибрования эталонного
волокна, если продольное отклонение значения хроматической дисперсии пренебрежительно мало.
D.1.4.1 Устройство линейного позиционирования
Устройство линейного позиционирования размещают на эталонной траектории для обеспечения баланса оп
тической длины двух траекторий интерферометра. Устройство позиционирования должно иметь достаточную точ
ность. однородность и стабильность линейного перемещения. Изменение длины должно охватывать диапазон от 20
до 10 мм при точности 2 мкм.
Используют эталонное волокно, приблизительно равное по длине испытуемому волокну. Значение групповой
задержки эталонного волокна должно быть известно для диапазона длин волн, при которых проводят измерения.
Эти значения необходимо знать для расчета групповой задержки испытуемого волокна.
П р и м е ч а н и е — Не допускается повторное расщепление эталонного волокна. Повторное расщепление
может влиять на точность измерения.
D.1.4.2 Оптическая линия задержки
Значение групповой задержки для оптической линии задержки должно быть известно для диапазона длин
волн, при которых проводят измерения. Эти значения необходимо знать для расчета групповой задержки испытуе
мого волокна.
D.1.5 Обработка данных
Для анализа интерференционных картин используют компьютер с соответствующим программным обеспече
нием.
D.2 Проведение испытания
D.2.1 Измерения на образце
Испытуемый образец помещают в измерительное устройство и выбирают соответствующую длину волны А .
С помощью устройства линейного позиционирования определяют положение х,. в котором генерируется макси
мальная интерференционная картина, и регистрируют его.
Затем выбирают другую длину волны А. и с помощью устройства линейного позиционирования определяют
положение х}, в котором генерируется максимальная интерференционная картина, и регистрируют его. Повторяют
данную процедуру соответствующее число раз для длин волн А и регистрируют х.как показано на рисунке D.3.
18