ГОСТ Р МЭК 62562—2012
Н А Ц И О Н А Л Ь Н Ы ЙС Т А Н Д А Р ТР О С С И Й С К О ЙФ Е Д Е Р А Ц И И
ГОСУДАРСТВЕННАЯ СИСТЕМА ОБЕСПЕЧЕНИЯ ЕДИНСТВА ИЗМЕРЕНИЙ
Комплексная диэлектрическая проницаемость диэлектрических пластин с малыми потерями
Метод измерений в объемном резонаторе
State system lor ensuring the uniformity ot measurements.
Cavity resonator method to measure the complex permittivity
of low-loss dielectric plates
Дата введения —2014—07—01
1 Область применения
Настоящий стандарт устанавливает метод измерений комплексной диэлектрической проница
емости диэлектрических пластин с малыми потерями в объемном резонаторе {далее - резонатор) на
частотах микроволнового диапазона [1] - [3].
Метод имеет следующие характеристики:
- относительная диэлектрическая проницаемость
е’
и тангенс угла диэлектрических потерь
tg
S
образца диэлектрической пластины могут быть измерены точно и без разрушения образца [4],
И ;
* может быть измерена температурная зависимость комплексной диэлектрической проницае
мости;
- неопределенность измерения не более 0.3 % для относительной диэлектрической проница
емости
£
и не более 5 10’6для тангенса утла диэлектрических потерь tgr?;
- краевой эффект учитывается применением коррекционных номограмм, рассчитанных на ос
новании строгих анализов.
Метод применим для измерений в следующих условиях:
частота2 ГГц < / < 40 ГГц;
относительная диэлектрическая проницаемость2 <
е’
< 100-
тангенс угла диэлектрических потерь 106< tg<!> < 10г.
2 Измеряемые параметры
Измеряемые параметры определяют следующим образом;
£г = £ ’ - j£ ’ = D / ( £ qE )
(1)
tg
S = £ * / £ ’
(2)
TKr.
= —-— ■—— —I0 6
(X A Q -b /K ),
(3)
srefT -T ref
где
D
- индукция электрического поля:
E -
напряженность электрического поля;
£
q
- диэлектрическая постоянная вакуума;
£ .£’ -
действительная и мнимая составляющие комплексной относительной диэлектриче
ской проницаемости
£г;
Т К е -
температурный коэффициент относительной диэлектрической проницаемости;
Издание официальное
1