8
6.5.1 Погрешность измерения коэффициента контрастности при использовании микроамперметра или измерителя отношений напряжений находится в интервале ±11 %.
6.5.2 Расчет границ интервала, в котором с установленной вероятностью 0,95 находится погрешность измерений, приведен в приложении Д.
7 МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ЭЛЛИПТИЧНОСТИ ПОЛЯРИЗАЦИИ ПУЧКА ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ, ПРОШЕДШЕГО ЧЕРЕЗ ЭЛЕМЕНТ В МИНИМУМЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ПРОПУСКАНИЯ, БЕЗ ПРИЛОЖЕНИЯ К ЭЛЕМЕНТУ ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО НАПРЯЖЕНИЯ
7.1 Метод измерения коэффициента эллиптичности поляризации пучка лазерного излучения, прошедшего через элемент в минимуме характеристики пропускания, без приложения к элементу электрического напряжения Кэ min (далее - коэффициент эллиптичности) основан на определении отношения максимальной мощности лазерного излучения к минимальной мощности лазерного излучения, прошедшего через систему, состоящую из двух поляризаторов и элемента, помещенного между ними.
Метод распространяется на элементы с коэффициентом эллиптичности до 500.
Максимальное значение мощности лазерного излучения соответствует параллельному положению поляризаторов относительно друг друга, а минимальное - скрещенному.
Коэффициент эллиптичности измеряют в многомодовом режиме работы лазера, если одномодовый режим не установлен в технических условиях на элемент.
7.2 Средства измерений и вспомогательные устройства
7.2.1 Схема расположения средств измерений и вспомогательных устройств - по 5.2.1 (источник питания элемента и вольтметр, указанные в схеме на рисунке 1, не используются).
7.2.2 Требования к приборам и вспомогательным устройствам - согласно 5.2.2 - 5.2.11.
7.2.3 Поляризаторы должны иметь градуированную шкалу, с помощью которой определяют направление вектора напряженности электрического поля лазерного излучения и угол поворота поляризаторов. Предельное отклонение любого значения градуированной шкалы от нулевого значения должно быть не более 10?.
Коэффициент эллиптичности поляризации пучка лазерного излучения, прошедшего через систему поляризаторов, должен превышать коэффициент эллиптичности, указанный в технических условиях на элемент, не менее чем в 10 раз.
Метод измерения коэффициента эллиптичности системы поляризаторов приведен в приложении В.
Если получить требуемый коэффициент эллиптичности для конкретной системы поляризаторов невозможно, то необходимо учитывать данные, полученные при проведении измерений параметров элемента.
7.2.4 Фазовая пластина должна представлять собой плоскопараллельную кристаллическую пластину толщиной не более 2 мм, в которой наблюдается явление двулучепреломления.
Коэффициент эллиптичности поляризации пучка лазерного излучения, прошедшего через фазовую пластину в заданной для элемента апертуре, должен быть не менее 1000.
Метод измерения коэффициента эллиптичности фазовой пластины приведен в приложении Г.
7.3 Порядок подготовки к измерениям и их проведения
7.3.1 Проводят операции, указанные в 5.3.1 - 5.3.8.
7.3.2 При измерении коэффициента эллиптичности элемента с помощью измерителя отношений напряжений проводят следующие операции: