15
регистрирующего устройства;
δ3 - погрешность, обусловленная нестабильностью мощности лазерного излучения (находится в пределах ±5 %).
Д.2 Погрешность измерения коэффициента контрастности элемента 
определяют по формуле
, (Д.2)
где δ1 - погрешность регистрирующего устройства [находится в пределах: для измерителя отношений напряжений ±6 %, для микровольтметра (микроамперметра) ±2 %];
δ2 - погрешность, обусловленная нелинейностью характеристики преобразования приемника (находится в пределах ±3 %);
δ3 - погрешность, обусловленная нестабильностью мощности лазерного излучения (находится в пределах ±5 %);
δ4 - погрешность, обусловленная неточностью юстировки (находится в пределах ±2 %);
1,96; 1,73; 3 - коэффициенты, зависящие от распределения погрешности измерений и установленной вероятности.
Д.3 Погрешность измерения коэффициента эллиптичности элемента δКэ min определяют по формуле
, (Д.3)
где δ1 - погрешность регистрирующего устройства [находится в пределах: для измерителя отношений напряжений ±6 %; для микровольтметра (микроамперметра) ±2 %];
δ2 - погрешность, обусловленная нелинейностью характеристики преобразования приемника (находится в пределах ±3 %);
δ3 - погрешность, обусловленная нестабильностью мощности лазерного излучения (находится в пределах ±5 %);
δ4 - погрешность, обусловленная неточностью юстировки (находится в пределах ±2 %);
δ5 - погрешность, обусловленная несоответствием коэффициента эллиптичности системы поляризаторов требованиям 5.3.4;
1,96; 1,73; 3 - коэффициенты, зависящие от распределения погрешности измерений и установленной вероятности.
Д.4 Погрешность измерения коэффициента эллиптичности в максимуме характеристики пропускания δКэ max определяют по формуле
, (Д.4)
где δ1 - погрешность регистрирующего устройства [находится в пределах: для измерителя отношений напряжений ±3 %, для микровольтметра (микроамперметра) ±2 %];
δ2 - погрешность, обусловленная нелинейностью характеристики преобразования приемника (находится в пределах ±3 %);
δ3 - погрешность, обусловленная нестабильностью мощности лазерного излучения (находится в пределах ±5 %);