3
Коэффициент эллиптичности поляризации пучка лазерного излучения, прошедшего через элемент: |
|
|
- в минимуме характеристики пропускания | Кэ min | ОП |
- в максимуме характеристики пропускания | Кэ max | ОП |
Полоса модулирующих частот | ΔF | ОП |
Примечание - Для указания способа задания норм на параметры приняты следующие обозначения: HP - номинальное значение параметра с двухсторонним допускаемым отклонением (разбросом); ОП - односторонний предел значения параметра без указания номинального значения |
4.2 Условия измерений
4.2.1 Измерения параметров проводят в нормальных климатических условиях:
Температура окружающей среды, °С 25±10
Относительная влажность, % 45 - 80
Атмосферное давление, Па 840?102 - 1060?102
или условиях, установленных в стандартах или технических условиях на элементы конкретных типов.
4.2.2 Направление вектора напряженности электрического поля модулированного лазерного излучения по отношению к кристаллографической оси элемента должно соответствовать указанному в технических условиях на элемент.
4.2.3 При проведении измерений параметров элементов с использованием лазеров лазер и все элементы измерительной установки, на которую должно попадать лазерное излучение, должны быть жестко закреплены на прочном основании (например, на станине оптической скамьи), при необходимости амортизируемом для исключения влияния вибрации на результаты измерений.
4.2.4 Значение максимальной локальной плотности энергии (мощности) лазерного излучения должно быть не более предельно допустимого значения, установленного в технических условиях на элемент.
4.2.5 Порядок отбора образцов и количество измерений приводят в разделе «Методы испытаний» технических условий на элементы конкретных типов.
4.3 Средства измерений и вспомогательные устройства
4.3.1 Все используемые средства измерений должны быть аттестованы в соответствии с ГОСТ 8.326, ГОСТ 8.513 и другими нормативными документами, устанавливающими порядок и методы аттестации и поверки конкретных средств измерений.
4.3.2 Средства измерений электрических величин должны соответствовать требованиям ГОСТ 22261, а средства измерений параметров лазеров - требованиям ГОСТ 24469.
4.3.3 Перечень рекомендуемых средств измерений и вспомогательных устройств приведен в приложении Б.
5 МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ СТАТИЧЕСКОГО ПОЛУВОЛНОВОГО НАПРЯЖЕНИЯ
5.1 Метод измерения статического полуволнового напряжения основан на определении минимального статического напряжения, подаваемого на элемент, при котором фазовая задержка изменяется на π радиан или коэффициент пропускания элемента изменяет свое значение от максимального до минимального.
5.2 Средства измерений и вспомогательные устройства
5.2.1 Схема расположения средств измерений и вспомогательных устройств приведена на рисунке 1.
5.2.2 Лазер должен работать в одномодовом режиме, если многомодовый режим не установлен в технических условиях на элемент.
Лазер должен иметь параметры лазерного излучения, соответствующие