21
где N0 - показание аттенюатора, соответствующее ослаблению эхо-сигнала от бокового цилиндрического отверстия в стандартном образце предприятия или в стандартном образце СО-2А, или СО-2 до уровня, при котором оценивают предельную чувствительность, дБ;
Nx - показание аттенюатора, при котором оценивают предельную чувствительность дефектоскопа Sn или при котором амплитуда эхо-сигнала от исследуемого дефекта достигает уровня, при котором оценивают предельную чувствительность, дБ;
ΔN - разность между коэффициентами прозрачности границы призмы преобразователя - металл контролируемого соединения и коэффициентом прозрачности границы призмы преобразователя - металл стандартного образца предприятия или стандартного образца СО-2А (или СО-2), дБ (ΔN ? 0).
При эталонировании чувствительности по стандартному образцу предприятия, имеющему форму и чистоту поверхности такую же, как и контролируемое соединение, ΔN = 0;
b0 - радиус цилиндрического отверстия, мм;
- скорость поперечной волны в материале образца и контролируемого соединения, м/с;
f - частота ультразвука, МГц;
r1 - средний путь ультразвука в призме преобразователя, мм;
- скорость продольной волны в материале призмы, м/с;
α и β - угол ввода ультразвукового луча в металл и угол призмы преобразователя соответственно, град;
H - глубина, для которой оценивается предельная чувствительность или на которой расположен выявляемый дефект, мм;
Н0 - глубина расположения цилиндрического отверстия в образце, мм;
δt - коэффициент затухания поперечной волны в металле контролируемого соединения и образца, мм-1.
Для упрощения определения предельной чувствительности и эквивалентной площади рекомендуется рассчитать и построить диаграмму (SKH-диаграмму), связывающую предельную чувствительность Sn (эквивалентную площадь Sэ), условный коэффициент К выявляемости дефекта 
и глубину Н, для которой оценивается (настраивается) предельная чувствительность или на которой расположен выявленный дефект.
Сходимость расчетных и экспериментальных значении Sn при α = (50 ± 5)° не хуже 20 %.
Пример построения SKH-диаграммы и определения предельной чувствительности Sn и эквивалентной площади Sэ