ГОСТ Р 53433—2009
ние отклонений от идеальной поверхности. Соседние полосы имеют разность высот в половину используемой
длины волны, например, 633.2 нм — для гелий-неонового лазера.
Применяя автоматические методы анализа интерференционной полосы с помощью видео- или ПЗС-камеры,
управляемой компьютером, измеряют отклонения от формы всей поверхности либо ее большего участка, в зависи
мости от отношения диаметра к вершинному радиусу кривизны и от числовой апертуры объектива.
Достигнутая точность формы более 300 нм. Точность измерения вершинного радиуса равна разрешающей
способности дистанционного измерителя.
6.4 Требования к образцам для измерения
Б.4.1 Образцами для измерения являются готовые жесткие контактные линзы.
6.5 Порядок проведения измерения
Порядок проведения измерения заключается в проведении следующих действий:
- расположить поверхность контактной линзы, которая подлежит измерению, очень точно относительно фо
куса объектива 6 с помощью дистанционного измерителя с разрешающей способностью 0.001 мм;
- визуально проконтролировать фокус объектива регулированием интерференционной картины до получе
ния минимального количества полос,
- переместить по оси контактную линзу на расстояние, равное ее вершинному радиусу кривизны. В этом поло
жении произвести анализ интерференционных полос.
- вычислить оптимально-приближенный вершинный радиус кривизны, а также коническую постоянную повер
хности по результату анализа интерференционных полос;
- исключить остаточные отклонения от идеальной конической поверхности.
28