ГОСТ Р 53433—2009
Приложение Б
(справочное)
Измороние радиуса кривизны жестких контактных линз методом интерферометрии
Б.1 Общие требования
Б.1.1 В данном приложении приводится метод измерения радиуса кривизны жестких контактных линз мето
дом интерферометрии.
Чтобы оценить интерференционную картину, необходимо определить отклонение интерференционной кар
тины от идеальной оптимально-приближенной. Для оценки поверхности контактной линзы обычно используется
оптимально-приближенная коническая сферическая поверхность.
Б.2 Требования к средствам измерения и вспомогательным устройствам
Б.2.1 Измерение радиуса кривизны задней и фронтапьной поверхностей жестких контактных линз проводит
ся на интерферометре Тваймана — Грина, принципиальная схема которого приведена на рисунке Б.1.
I — лазер. 2 — линзовая система L1. L2. L3; 3 — делитель пучка. 4 — опорное зеркало; 5 — голограмма, сформированная ЭВМ;
в — светосильный объектив; 7 — линза; в — измеряемая поверхность контактной линзы. 9 — камера; 10 — диафрагма
6.2.2 Коллимированный лазерный пучок разделяется с помощью делителя 3 на тест-пучок и опорный пучок.
Опорный пучок отражается очень точным опорным зеркалом 4 и поступает на выход интерферометра, где помеща
ется голограмма 5. сформированная компьютером (при испытании асферической поверхности).
Тест-пучок проходит через линзовую систему 2. состоящую из светосильного объектива 6 и одной или не
скольких дополнительных линз 7. чтобы получить сферическую форму волны, соответствующую измеряемой по
верхности контактной линзы 8. При отражении свет проходит по тому же пути и интерферирует с опорным пучком на
выходе интерферометра. Для измерения различных асферических поверхностей используют голограмму, сформи
рованную компьютером, чтобы преобразовать аберрационный порядокдифракции, поскольку голограмма не плос
кая. Голограмма может интерферировать с недифрагироввнным светом опорного пучка для формирования
интерференционной картины с идеально прямыми интерференционными полосами либо вообще без полос.
6.3 Требования к точности измерения
6.3.1 Любое отклонение формы измеряемой поверхности контактной линзы приводит к формированию ис
кривленной или неправильной интерференционной картины, что можно интерпретировать как контурное изображе-
[
Рисунок 6.1 — Принципиальная схема измерения кривизны жестких контактных линз
с помощью интерферометра Тваймана — Грина
27