ГОСТ Р 53770-2010; Страница 7

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы

ГОСТ Р 53711-2009 Изделия электронной техники. Правила приемки Electronic components. Rules acception (Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые изделия электронной техники, предназначенные для применения в аппаратуре народно-хозяйственного назначения, и устанавливает правила их приемки. Стандарт устанавливает правила приемки изделий, предъявляемых на контроль партиями или непрерывным потоком. Настоящий стандарт применяют при разработке стандартов и технических условий на изделия конкретных групп, видов, типов. Стандарт разработан с учетом требований ГОСТ 15.309) ГОСТ Р 8.696-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра State system for ensuring the uniformity of measurements. Interplanar spacings in crystals and the intensity distribution in diffraction patterns. Method for measurement by means of an electron diffractometer (Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и распределений интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных при дифракции пучка электронов на кристаллах с помощью электронного дифрактометра. Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 20,00 нм и распределения токовых интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных от кристаллов в диапазоне от 10 в ст. минус14 до 10 в ст. минус 6 А. Настоящий стандарт не устанавливает методику определения типа элементарной решетки кристалла и индекса Миллера плоскостей кристалла, между которыми вычисляют расстояния) ГОСТ Р 8.698-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer (Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения следующих измерений с помощью автоматического рентгеновского малоуглового дифрактометра:. - максимальных размеров и электронных радиусов инерции наночастиц в монодисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм;. - распределения наночастиц по размерам в полидисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм;. - общей толщины и размера периода повторения слоев в многослойных пленках толщиной от 1 до 100 нм. Настоящий стандарт распространяется на:. - материалы, содержащие системы наночастиц со среднеарифметическим расстоянием между ними не менее 10 максимальных линейных размеров, с однородной электронной плотностью, большей или меньшей электронной плотности окружающей их среды;. - многослойные пленки с известным числом одинаковых групп слоев, изготовленные на твердых плоских подложках)

Страница 7

Страница 1

Untitled document

ГОСТ Р 53770—2010

3.20.9 высота шахты от верхней этажной площадки Л1: Расстояние от уровня пола верхней

этажной площадки до нижней части перекрытия шахты, измеренное параллельно направляющим.

3.20.10 ширина машинного помещения Ь4: Расстояние по горизонтали между внутренними

поверхностями стен машинного помещения, измеренное параллельно ширине кабины.

3.20.11 глубина машинного помещения с/4: Расстояние по горизонтали между внутренними

поверхностями стен машинного помещения, измеренное перпендикулярно к ширине машинного поме

щения.

3.20.12 высота машинного помещения h2: Расстояние по вертикали между уровнем пола

машинного помещения, на котором размещено оборудование лифта, и потолком машинного помеще

ния.

3.21 система управления лифта: Совокупность устройств управления, обеспечивающих рабо

ту лифта в соответствии с заданной программой.

3.22 система управления лифта внутренняя: Вид управления, при котором команда управле

ния на пуск лифта подается только из кабины лифта.

3.23 система управления лифта смешанная: Вид управления, при котором команда управле

ния на пуск лифта подается как из кабины, так и с этажных площадок.

4 Параметры лифтов

4.1 Ряд номинальных грузоподъемностей

Значения номинальных грузоподъемностей, кг. выбирают из ряда чисел, близких к ряду предпоч

тительных чисел R10 по ГОСТ 8032: 320: 400: 450: 500; 630; 800; 1000; 1275; 1600; 1800; 2000; 2500.

4.2 Ряд номинальных скоростей

Значения номинальных скоростей, м/с. выбирают из ряда чисел, близких к ряду предпочтитель

ных чисел R5 по ГОСТ8032: 0.4; 0.5; 0.63; 0.7Т. 1,0; 1.6; 2.0; 2.5; 3.0; 3.5; 4.0; 5.0; 6.0.

Скорость от 0.5 до 6.0 м/с — для электрических лифтов.

Скорость от 0.4 до 1.0 м/с — для гидравлических лифтов.

5 Размеры

5.1 Внутренние размеры кабины пассажирского лифта

Размеры (полезная площадь) кабины лифтов категорииА не должны превышать величин, уста

новленных в таблице 1для соответствующих номинальных грузоподъемностей. Ограничение полез

ной площади имеет целью предотвратить перегрузкукабины пассажирского лифта пассажирами.

Т а б л и ц е 1— Соотношение номинальной грузоподъемности и полезной площади кабины пассажирских лиф

тов категории А

Номинальнаягрузоподъемность лифта, кг

Максимальнаяполезнаяплощадь кабины, м’

320

0.96

400

1.17

450

1.30

500

1.38

630

1.66

800

2.00

1000

2.40

1275

2.95

1600

3.56

1800

4.0

2000

4.20

2500

5.00