ГОСТ Р 53770-2010; Страница 20

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы

ГОСТ Р 53711-2009 Изделия электронной техники. Правила приемки Electronic components. Rules acception (Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые изделия электронной техники, предназначенные для применения в аппаратуре народно-хозяйственного назначения, и устанавливает правила их приемки. Стандарт устанавливает правила приемки изделий, предъявляемых на контроль партиями или непрерывным потоком. Настоящий стандарт применяют при разработке стандартов и технических условий на изделия конкретных групп, видов, типов. Стандарт разработан с учетом требований ГОСТ 15.309) ГОСТ Р 8.696-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра State system for ensuring the uniformity of measurements. Interplanar spacings in crystals and the intensity distribution in diffraction patterns. Method for measurement by means of an electron diffractometer (Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и распределений интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных при дифракции пучка электронов на кристаллах с помощью электронного дифрактометра. Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 20,00 нм и распределения токовых интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных от кристаллов в диапазоне от 10 в ст. минус14 до 10 в ст. минус 6 А. Настоящий стандарт не устанавливает методику определения типа элементарной решетки кристалла и индекса Миллера плоскостей кристалла, между которыми вычисляют расстояния) ГОСТ Р 8.698-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer (Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения следующих измерений с помощью автоматического рентгеновского малоуглового дифрактометра:. - максимальных размеров и электронных радиусов инерции наночастиц в монодисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм;. - распределения наночастиц по размерам в полидисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм;. - общей толщины и размера периода повторения слоев в многослойных пленках толщиной от 1 до 100 нм. Настоящий стандарт распространяется на:. - материалы, содержащие системы наночастиц со среднеарифметическим расстоянием между ними не менее 10 максимальных линейных размеров, с однородной электронной плотностью, большей или меньшей электронной плотности окружающей их среды;. - многослойные пленки с известным числом одинаковых групп слоев, изготовленные на твердых плоских подложках)

Страница 20

Страница 1

Untitled document

ГОСТ Р 53770—2010

Приложение А

(справочное)

Сопоставление структуры настоящего стандарта со структурой примененного в нем междуна

родного стандарта ИСО 4190-1:1999

Указанное в таблице изменение структуры национального стандарта Российской Федерации относительно

структуры примененного международного стандарта обусловлено приведением в соответствие с требованиями,

установленными в ГОСТ 1.5.

Т а б л и ц а А.1

Структура настоящего стандарта

Структура международного стандарта ИСО 4190-1:1999

Раздел 1

Раздел 2

Раздел 3

Раздел 4

Раздел 5

Раздел 1

—

Раздел 2

Раздел 3

Раздел 4

Библиография

[1] ПБ 10-558—2003 Правила устройства и безопасной эксплуатации лифтов. Госгортехнадзор РФ.

2003

УДК 692.66:006.354ОКС 91.140.90Ж22ОКП 48 3610

Ключевые слова: пассажирские лифты, здания и сооружения различного назначения, основные пара

метры и размеры

Редактор В.Н. Копысов

Технический редактор Н.С. Гришанова

Корректор М.В. Бучная

Компьютерная верстка П.А. Круговой

Слано в набор 30.04.2010.Подписано в печать 03.06.2010.Формат 60 »84^)/Бумага офсетная.Гарнитура Ариал

Печать офсетная. Уел. печ. л. 2.32Уч.-изд. п. 1.90Тираж 174 экз.Зак. 447.

ФГУП «СТАНДАРТИИФОРМ», 123995 Москва. Гранатный пер . 4

WM-K-.goslinio.ru

info@eostinfo.ru

Набрано во ФГУП «СТАНДАРТИИФОРМ. на ПЭВМ.

Отпечатано а филиале ФГУП «СТАНДАРТИИФОРМ» — тип. «Московский печатник». 105062 Москва. Лялин пер . 6.

ГОСТ Р 53770-20