ГОСТ Р 53770-2010; Страница 2

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы

ГОСТ Р 53711-2009 Изделия электронной техники. Правила приемки Electronic components. Rules acception (Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые изделия электронной техники, предназначенные для применения в аппаратуре народно-хозяйственного назначения, и устанавливает правила их приемки. Стандарт устанавливает правила приемки изделий, предъявляемых на контроль партиями или непрерывным потоком. Настоящий стандарт применяют при разработке стандартов и технических условий на изделия конкретных групп, видов, типов. Стандарт разработан с учетом требований ГОСТ 15.309) ГОСТ Р 8.696-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра State system for ensuring the uniformity of measurements. Interplanar spacings in crystals and the intensity distribution in diffraction patterns. Method for measurement by means of an electron diffractometer (Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и распределений интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных при дифракции пучка электронов на кристаллах с помощью электронного дифрактометра. Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 20,00 нм и распределения токовых интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных от кристаллов в диапазоне от 10 в ст. минус14 до 10 в ст. минус 6 А. Настоящий стандарт не устанавливает методику определения типа элементарной решетки кристалла и индекса Миллера плоскостей кристалла, между которыми вычисляют расстояния) ГОСТ Р 8.698-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer (Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения следующих измерений с помощью автоматического рентгеновского малоуглового дифрактометра:. - максимальных размеров и электронных радиусов инерции наночастиц в монодисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм;. - распределения наночастиц по размерам в полидисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм;. - общей толщины и размера периода повторения слоев в многослойных пленках толщиной от 1 до 100 нм. Настоящий стандарт распространяется на:. - материалы, содержащие системы наночастиц со среднеарифметическим расстоянием между ними не менее 10 максимальных линейных размеров, с однородной электронной плотностью, большей или меньшей электронной плотности окружающей их среды;. - многослойные пленки с известным числом одинаковых групп слоев, изготовленные на твердых плоских подложках)

Страница 2

Страница 1

Untitled document

ГОСТ Р 53770—2010

Предисловие

Цели и принципы стандартизации в Российской Федерации установлены Федеральным законом

от 27 декабря 2002 г. No 184-ФЗ «О техническом регулировании», а правила применения национальных

стандартов Российской Федерации — ГОСТ Р 1.0—2004 «Стандартизация в Российской Федерации.

Основные положения»

Сведения о стандарте

1 ПОДГОТОВЛЕН ОАО «Щербинсхий лифтостроительный завод» (ОАО «ЩЛЗ») на основе

аутентичного перевода стандарта, указанного в пункте 4

2 ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 209 «Лифты, эскалаторы, пассажир

ские конвейеры и подъемные платформы для инвалидов»

3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому

регулированию и метрологии от 11 февраля 2010 г. N

1 5 -

ст

4 Настоящий стандарт является модифицированным по отношению к международному стандар

ту ИСО 4190-1:1999 «Лифтовая установка. Часть 1. Лифты классов I. II. Ill и IV» (ISO 4190-1:1999 Lift

(Elevator) installation — Part 1: Class I. II, III and IV lifts).

При этом дополнительные требования и параметры, включенные в текст стандарта для учета

потребностей национальной экономики Российской Федерации, выделены в тексте стандарта курси

вом.

Настоящий стандарт дополнен структурным элементом «Библиография».

Наименование настоящего стандарта изменено относительно наименования указанного между

народного стандарта для приведения в соответствие с ГОСТ Р 1.5—2004 (пункт 3.5)

5 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ

Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодно издаваемом

информационном указателе «Национальные стандарты». а текст изменений и поправок

—

в еже

месячно издаваемых информационных указателях «Националыше стандарты». В случае пере

смотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет

опубликовано в ежемесячно издаваемом информационном указателе «Национальные стандарты».

Соответствующая информация, уведомления и тексты размещаются также в информационной

системе общего пользования

—

на официальном сайте Федерального агентства по техническому

регулированию и метрологии в сети Интернет

Настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен, тиражирован и рас

пространен в качестве официального издания без разрешения Федерального агентства по техническо

му регулированию и метрологии