ГОСТ Р МЭК 61508-6—2007
Значение [i^ определяется по таблице D.4 с помощью оценки SD = X(Z + 1) + Y.
D.6 Использование таблиц для оценки (3
Оценку ^-фактора рассчитывают отдельно для датчиков, логической подсистемы и оконечных элементов.
Для того чтобы свести к минимуму вероятность возникновения отказов по общей причине, следует сначала
определить средства, эффективно защищающие от появления таких отказов. Реализация соответствующих средств в
системе ведет к уменьшению значения |5-фактора. используемого при оценке вероятности отказа системы из-за
отказов по общей причине.
Мероприятия и соответствующие им значения (баллы) параметров X и У. полученные с помощью инженер
ной оценки и описывающие вклад каждого из мероприятий в уменьшение числа отказов по общей причине, пере
числены в таблице D.1. Так как датчики и оконечные элементы анализируются иначе, чем
программируемая электроника, в таблице D.1 используются столбцы XLS и YLSдля программируемых
электронных средств и столбцы
X SF
и
Y
s
f д л я
датчиков или оконечных элементов.
Программируемые электронные системы могут использовать интенсивное диагностическое тестирование,
позволяющее обнаруживать неодновременные отказы по общей причине. Для учета диагностического тестирова
ния при оценке [1-фактора общий вклад каждого из мероприятий в таблице D.1 разделен с использованием
инженерной оценки на наборы значений X и У. Для каждого конкретного мероприятия отношение Х:У представ
ляет собой меру повышения вклада этого мероприятия в борьбу с отказами по общей причине благодаря диагно
стическому тестированию.
Пользователь таблицы D.1 должен определить, какие мероприятия будут использованы для рассматрива
емой системы, и сложить соответствующие мероприятиям баллы, приведенные в графах Xts и У, s для логической
подсистемы или в графах X SF и YSF— для датчиков или оконечных элементов, получив суммыX и У соответствен
но.
Коэффициент Z определяют по таблицам D.2 и D.3 по частоте и охвату диагностического тестирования с
учетом примечания, определяющего, когда следует использовать ненулевое значение Z. Затем (при необходимо
сти) рассчитывают сумму баллов S (см. D.5) по формуле S = X + У — для получения значения fi ([^-фактора для
необнаруженных отказов) и SD = X(Z + 1) + У — для получения значения(р0-фактора для обнаруженных
отказов), где S или Sa — баллы, используемые в таблице D.4 для определения соответствующего [1-фактора.
Т а б л и ц аD.1— Оценка мероприятий (барьеров) защиты программируемых электронных средств или
дагчиков.’оконечных элементов от возникновения отказов по общей причине
Мероприятие
Логическая
подсистема
Датчики и
оконечные
элементы
*1*
**
Разделение/выделение
Везде ли сигнальные кабели каналов разделены между собой1.51.51.02.0
Расположены ли логические подсистемы каналов на отдельных печатных пла3.01.0
——
тах
Расположены ли логические подсистемы каналов в отдельных шкафах2.50.5——
Если датчики/оконечные элементы включают всебя собственную управляющую2.5
1.5
электронику, то расположена ли электроника для каждого канала на отдельной
печатной плате
Если датчики/оконечные элементы включают собственную управляющую элект2.50.5
ронику. то расположена ли электроника для каждого канала в различных помеще
ниях и различных шкафах
Диверсификация/избыточность
Реализованы ли в каналах различные электрические технологии, например,7.0
один канал электронный или программируемый электронный, а для другого ис
пользуются реле
Реализованы ли в каналах различные электронные технологии, например, один5.0
———
канал — электронный, а другой — программируемый электронный
Используют ли устройства различные физические принципы для датчиков, нап7.5
ример. давления и температуры, анемометр с вертушкой и доплеровский датчик и
т.Д.
Используют ли устройства различные электрические лринцяпы’конструкции. нап5.5
ример, цифровые и аналоговые, с компонентами от различных производителей
(но не уцененные) или с различной технологией
43