Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 22.12.2025 по 28.12.2025
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями

ГОСТ ИСО 11843-3-2005; Страница 9

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ 2082.14-81 Концентраты молибденовые. Метод определения висмута Molibdenum concentrates. Method for the determination of bismuth content (Настоящий стандарт распространяется на молибденовые концентраты и устанавливает фотоколориетрический метод определения висмута (при содержании от 0,001 до 0,5 %). Метод основан на образовании окрашенного в желтый цвет комплексного соединения висмута с йодидом калия) ГОСТ 25063.1-81 Материалы фотографические. Метод определения тиосульфата Photographic materials. Method for determination of thiosulphate content (Настоящий стандарт устанавливает метод определения тиосульфата для контроля сохраняемости фотографического изображения черно-белых и цветных фотографических материалов) ГОСТ 24680-81 Машины электрические вращающиеся. Пластины коллекторные изоляционные. Ряд толщин Rotating electrical machinery. Insulating collector plates. Row of thichnesses (Настоящий стандарт устанавливает номинальные толщины изоляционных коллекторных пластин, применяемых для изготовления коллекторов электрических машин, а также электромеханизмов и электроприборов. Стандарт не распространяется на коллекторные изоляционные пластины для торцевых коллекторов электрических машин и коллекторов тяговых электрических машин)
Страница 9
Страница 1 Untitled document
ГОСТ ИСО 11843-3—2005
Повторение измерений (К— количество повторений) действительного состояния (исследуемого
образца) позволяет до некоторой степени снизить критическое значениеотклика [см. формулу (4)]. хотя
для этого необходимо тщательно изучить возможные финансовые ограничения.
4.3.2 Однотипность повторений
При отборе проб базового состояния для измерения отклика необходимо полностью следовать
процедуре отбора проб в пределах общего метода.
Если доступны стандартные образцовые вещества, то следует использовать их. поскольку одно
родность этих образцов уже была тщательно исследована.
Возможности проявления некоторых поверхностных факторов, таких какэлектростатическое влия
ние. осаждение, приводящих к неидентичности образцов, следует всегда принимать во внимание.
4.3.3 Возможные факторы негативного влияния
Изменение возможных факторов негативного влияния во время измерений должно быть миними
зировано (см. ИСО 11843-2. подраздел 4.1).
5 Расчет критического значения отклика ус
5.1 Основной метод
В соответствии с ИС011843-1 критическое значение ус это такое значение отклика у. при превы
шении которогоделают вывод о том. что система не находится в базовом состоянии. Критическое значе
ние выбирают таким образом, что при нахождении системы в базовом состоянии подобный вывод
возможен лишь с небольшой вероятностью а . т.е. критическое значение является минимальным значи
мым значением измерения или сигнала, используемымдля его выделения поотношениюк фону (шуму).
Решение «обнаружено» или «не обнаружено» принимают путем сравнения арифметического
среднего результатов измерений, полученных для действительного состояния уа, с критическим значе
нием уг соответствующего распределения. Вероятность того, что арифметическое среднее измеренных
значений ул превысит критическое значение ус для распределения в базовом состоянии (х = 0). должна
быть не больше заданной вероятности а.
Для критического значения ус справедливо неравенство:
П р и м е ч а н и е Р(уя> у0 ■ 0) обозначает вероятность того, что ут > у4 при условии х = 0.
Для непрерывного распределения неравенство (1) может переходить в равенство, а для дискрет
ного распределения (например, пуассоновского распределения), для которого не все значения а воз
можны. неравенство (1) имеет вид строгого неравенства.
Если выполнены следующие условия:
a) у имеет нормальное распределение со стандартным отклонением ст0,
b
) образцы в действительном состоянии максимально однородны,
c) измерения объективны, —
критическое значение отклика вычисляют по упрощенной формуле (1)
где z,
_
, — квантиль нормированного нормального распределения уровня 1 а;
ст0 — стандартное отклонение холостого сигнала (или концентрации) нулевой гипотезы (истинное
значение х = 0);
J — количество повторений определения базового состояния:
уь — арифметическое среднее повторений определения базового состояния;
К — количество определений действительного состояния.
П р и м е ч а н и е В формуле <2)знак «♦» используют тогда, когда значение отклика увеличивается с повы
шением уровня приведенной переменной состояния, а знак «» используют тогда, когда значение отклика умень
шается с повышением уровня приведенной переменной состояния.
Р(У, > УеI* = 0) £ а.
(D
(
2
)
3