ГОСТ Р 54597—2011
Примечание — Площадь активной поверхности пропорциональна квадрату диаметра частицы, если раз-
мер частиц меньше средней длины свободного пробега молекул газа, и пропорциональна диаметру частицы, если
размер частиц намного больше средней длины свободного пробега молекул газа.
2.19 площадь поверхности, удельная (surface area, specifi c): Площадь поверхности, приходя-
щаяся на единицу массы частицы или вещества.
2.20 ультрадисперсный аэрозоль (ultrafi ne aerosol): Аэрозоль, состоящий преимущественно из
ультрамелких частиц.
Примечание — Термин часто используют для аэрозолей, образованных частицами, полученными в каче-
стве побочных продуктов (случайные частицы) процессов, таких как сварка и горение.
2.21 ультрамелкаячастица(ultrafine particle): Частицасноминальнымдиаметром(геометрическим,
аэродинамическим, диаметром подвижности, площади проекции или любым другим) 100 нм или менее.
Примечание — Этот термин часто используют для частиц, образующихся в качестве побочных продук-
тов процессов (случайные частицы), таких как сварка и горение.
3 Обозначения и сокращения
d
f
f
s
d
d
d
s
AFM — атомная силовая микроскопия;
BET — метод определения площади поверхности Брунауэра — Эммета —Теллера [33];
CPC — конденсационный счетчик частиц;
DMA — дифференциальный анализатор подвижности;
EDX — энергодисперсионный рентгеноспектральный анализ;
EELS — спектроскопия энергетических потерь электронов;
ELPI — электрический импактор низкого давления;
ESEM — сканирующий электронный микроскоп для объектов окружающей среды;
FEG-SEM — сканирующий электронный микроскоп с автоэмиссионной пушкой;
GSD — геометрическое стандартное отклонение;
HEPA — высокоэффективный фильтр очистки воздуха;
ICRP — Международная комиссия по радиологической защите;
MMAD — аэродинамический диаметр, соответствующий центральной медиане распределения ча-
стиц по размерам;
NSOM — сканирующая оптическая микроскопия в ближнем поле;
OPC — оптический счетчик частиц;
SEM — сканирующий электронный микроскоп;
SMPS — сканирующий классификатор подвижности частиц, пошаговый измеритель подвижности
частиц;
SPM — сканирующая зондовая микроскопия;
STEM — сканирующий просвечивающий электронный микроскоп;
STM — сканирующая туннельная микроскопия;
TEM — просвечивающий электронный микроскоп;
TEOM
®
— вибрационные микровесы с коническим элементом
1)
;
А — минимально допустимая относительная площадь проекции частицы диаметром d на поле
зрения микроскопа, выраженная в А ;
А — площадь поля зрения микроскопа, м
2
(см. приложение А);
А — эффективная площадь подложки, м
2
(см. приложение А);
C — счетная концентрация частиц как функция их диаметра, м
–3
(см. приложение А);
d — диаметр частицы, м;
E — эффективность отбора проб как функция диаметра частиц (см. приложение А);
N — минимальнодопустимоечислочастицдиаметром
d
вполезрениямикроскопа (см. приложениеА);
n — минимально допустимая плотность частиц на подложке микроскопа, м
–2
(см. приложение А);
q — расход при отборе проб, м
3
/с (см. приложение А);
t — продолжительность отбора пробы, с (см. приложение А);
— длина волны освещающего источника, м.
3
1)
ТЕОМ является примером подходящей продукции, имеющейся в продаже. Данная информация приведе-
на
для
удобства
пользователей
настоящего
стандарта
и
не
является
рекламой
ИСО
названной
продукции.