Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 23.12.2024 по 29.12.2024
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями

ГОСТ 5717.1-2003; Страница 11

или поделиться

Страница 11
Страница 1 Untitled document
ГОСТ 5717.1-2003
ПРИЛОЖЕНИЕ Л
(справочное)
Контроль качества отжига
А.1 Контроль отжига полярископом-поляриметром
А.1.1 Для контроля отбирают банки в соответствии с требованиями настоящего стандарта.
А.1.2 Аппаратура, материалы
Полярископы-поляриметры типов ПКС-125, ПКС-250 или других типов.
Прибор для измерения толщины стенок и дна изделий.
Хлопчатобумажная ткань для протирания оптических деталей.
А.1.3 Подготовка к проведению контроля
Полярископ-поляриметр должен быть установлен в затемненном помещении при температуре окружаю
щей среды от 10 С до 45 4С й относительной влажности не более 80 %.
Образны перед испытанием выдерживают в помещении не менее 30 мин.
А.1.4 Проведение контроля
При просмотре изделие ориентируют так. чтобы просматриваемый участок был перпендикулярен к
направлению распространения света полярископа-поляриметра.
При применении полярископа-поляриметра типов ПКС-125 и ПКС-250 переключатель компенсатора
должен находиться в положении X, а лимб анализатора компенсаторав нулевом положении. При вращении
изделия находят участки с максимальным напряжением по цветовой окраске. Вводят чувствительную пластинку
Х/4, для чего переключатель анализатора выводят из положения X в положение Х/4, и зеленый светофильтр.
Участкус максимальным напряжением соответствует максимальное просветление темного поля полярископа-
поляриметра.
Участок с максимальным напряжением устанавливают в центре поля зрения полярископа-поляриметра.
Поворачивая головку анализатора, добиваются сведения темных полос в центре до потемнения просветленного
участка. Списывают с лимба анализатора показания углов поворота. Измерения проводят три раза.
Измеряют толщину контролируемого участка S. Для банок значение S равно двойной толщине стенки
при просмотре перпендикулярно к оси изделия. При просмотре дна банок S равно сто толщине.
А.1.5 Обработка результатов
Удельную разность хода лучей Д\ нмм. вычисляют по формуле
где <?—угол поворота лимба анали затора, нм;
S толщина просматриваемого участка изделий (толщина двух стенок), см.
За окончательный результат принимают среднеарифметическое значение результатов трех определений
при введенном зеленом светофильтре. Удельная разностьхода лучей должнасоответствоватьтребованиям 4.1.18
настоящего стандарта.
Л.2 Контроль отжига полярископом
А.2.1 Контроль отжига проводят полярископом с применением ступенчатых клиньев или без них.
А.2.2 Для контроля отбирают банки в соответствии с требованиями настоящего стандарта.
А.2.3 Аппаратура, материалы
Полярископ типа ПКС-500 или других типов.
Ступенчатые клинья типов CTK-I, СТК-2, СТК-3.
Хлопчатобумажная ткань для протирания оптических деталей.
А.2.4 Подготовка к проведению контроля
Полярископ должен быть установлен в затемненном помещении при температуре окружающей среды от
10 ’С до 45 ‘С и относительной влажности не более 80 %. Образцы перед испытанием выдерживают в
помещении нс менее 30 мин.
А.2.5 Проведение контроля с применением ступенчатых клиньев
При просмотре изделие располагают так. чтобы просматриваемый участок был перпендикулярен к
направлению распространения поляризованного света.
Ступенчатый клин располагают но диагоналям поля зрения полярископа рядом с изделием так. чтобы
интерференционные цвета в клине и изделии имели одинаковую последовательность.
Разность хода лучей в контролируемом изделии определяют путем сравнения интерференционного цвета
контролируемого участка изделия с интерференцией цветов различных ступеней клина при вращении изделия.
Если цвет одной из ступеней клина ближе или совпадает с цветом контролируемого участка изделия, то
разность хода лучей в изделии принимают равной разности хода лучей этой ступени клина.
Если цвет контролируемого участка изделия окажется промежуточным междудвумя соседними ступенями
клина, то разность хода лучей принимают равной полусумме разностей хода лучей этих ступеней.
Измеряют толщину контролируемого участка S.
(А.1)
9