ГОСТ Р МЭК 60770-3— 2016
П р и м е ч а н и е 2 — При проведении тестирования при постоянном 50 % уровне входного сигнала, может
быть потеряна или оказаться трудно определимой информация о появлении такой неисправности, как временное
«удержание» сигнала.
Эталонные условия для тестовых испытаний по проверке функциональной надежности датчика при модели
ровании ситуаций ошибок обслуживающего персонала изначально идентичны эталонным условиям моделирова
ния неисправности, описанным выше. По окончании предыдущих тестовых испытаний датчик выключается, и мо
делируются условия возникновения ошибки обслуживания. Далее на датчик подается напряжение электропитания и
проводится его инициализация в соответствии с необходимыми процедурами.
А.4 Тестовое испытание по моделированию внутренней неисправности датчика
П р и м е ч а н и е — Дальнейшее руководство по тестовым испытаниям данного типа может быть также
найдено в МЭК 61069-5 и МЭК 62098.
Даннов тестовое испытание состоит из двух этапов.
Этап 1: Эксперт от изготовителя объясняет детали проекта датчика. Основываясь на разъяснениях эксперта,
специалист, проводящий оценку датчика, находит наиболее критичные места проекта.
Этап 2: Специалист, проводящий оценку датчика, определяет реальные места моделирования неисправ
ностей. Далее специалист, проводящий оценку датчика, и эксперт должны обсудить метод моделирования неис
правности. В конце данного этапа должен быть выработан план действий и матричная таблица (см.рисунок А.З)
проведения тестовых испытаний и составления по ним отчета.
Можно выделить четыре типа моделируемых неисправностей:
- потеря напряжения электропитания и синхросигналов от различных тактирующих устройств (на рисунке А.1
данный тип неисправностей показан косой чертой);
- неисправности ИС. связанные с потерей выходных сигналов на линиях управления, адреса и данных (на
рисунке А.1 показаны точками). Такие неисправности привадят к появлению на этих линиях бесконечных сигналов
логических «0» или «1». Такие неисправности могут быть смоделированы в схеме с помощью тестового зонда, под
ключаемого к указанным тестовым точкам на датчике, попеременно подсоединяемого то к источнику логического
«0». то к источнику логической «1». что приводит данные точки в состояние либо логического *0». либо логиче ской
«1». В случае, если исследуемая схема характеризуется низким импедансом, проведение данного теста по
вышеприведенному сценарию может оказаться невозможным из-за возникновения падения напряжения на всем
датчике. В этом случав, линия перерезается, и проведение теста в большинстве случаев становится возможным
при введении в схему переключателя, показанного на рисунке А.2. Бопее того, с помощью такого подхода также
удается смоделировать потерю сигнала на входах ИС. Это важно для сигналов, приходящих от одного общего
источника, поступающих на разные схемы, как показано на рисунке А.1, на внутренней последовательной шине;
- потеря сигнала, моделируемого разрывами пиний, показанных на рисунке А.1 косой чертой. Данный тип
неисправностей может быть смоделирован с помощью тестового устройства, показанного на рисунке А.2;
- непоказанные на рисунке А.1 неисправности отдельных компонентов (резисторов, диодов, конденсаторов,
транзисторов и т. д.). Данные неисправности могут быть дефектами типа как короткое замыкание, так и разрыв
линии.
Л оги чески й «0»Л огический * 1»
Рисунок А.2 — Тестовое устройство для испытания общих схем или схем с низким импедансом
42